集成电路芯片测试技术
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广东广州
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作者作者
出版社西安电子科技大学出版社
ISBN9787560659541
出版时间2021-03
装帧平装
开本16开
定价35元
货号1202356871
上书时间2024-11-23
商品详情
- 品相描述：全新
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