材料分析测试技术--材料X射线衍射与电子显微分析(第2版高等学校经典畅销教材)
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作者编者:周玉//武高辉
出版社哈尔滨工业大学
ISBN9787560313382
出版时间2007-08
装帧其他
开本其他
定价36.8元
货号30449384
上书时间2024-07-03
商品详情
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目录
第0章 绪论
第1章 X射线的性质
1.1 引言
1.2 X射线的本质
1.3 X射线的产生及X射线管
1.4 X射线谱
1.5 X射线与物质的相互作用
1.6 X射线的安全防护
习题
第2章 X射线衍射方向
2.1 引言
2.2 晶体几何学基础
2.3 衍射的概念与布拉格方程
2.4 X射线衍射方向
2.5 X射线衍射方法
习题
第3章 X射线衍射强度
3.1 引言
3.2 结构因子
3.3 多晶体的衍射强度
3.4 积分强度计算举例
习题
第4章 多晶体分析方法
4.1 引言
4.2 粉末照相法
4.3 X射线衍射仪
4.4 衍射仪的测量方法与实验参数
4.5 点阵常数的精确测定及其误差分析
习题
第5章 X射线物相分析
5.1 引言
5.2 定性分析的原理和分析思路
5.3 粉末衍射卡片的组成
5.4 PDF卡片的索引
5.5 物相定性分析方法
5.6 物相定量分析
习题
第6章 宏观应力测定
6.1 引言
6.2 单轴应力测定原理
6.3 平面应力测定原理
6.4 试验方法
6.5 试验精度的保证及测试原理的适用条件
习题
第7章 晶体的极射赤面投影
7.1 球面投影
7.2 极射赤面投影和吴里夫网
7.3 极射赤面投影的性质及其应用
7.4 晶带的极射赤面投影
7.5 标准投影图
内容摘要
周玉、武高辉编著的《材料分析测试技术--材料X射线衍射与电子显微分析(第2版高等学校经典畅销教材)》介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括：X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、
物相分析、宏观应力测定、晶体的极射赤面投影、多晶体织构分析、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时，简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及X射线光电子能谱仪等显微分析方法，书末配有实验指导和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
本书可作为材料科学与工程学科的本科生教材或教学参考书，也可供从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员参考。
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