片上系统测试设计与优化
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作者(瑞典)埃里克·拉森
出版社科学出版社
ISBN9787030769183
出版时间2024-01
装帧平装
开本16开
定价88元
货号1203141580
上书时间2024-06-12
商品详情
- 品相描述：全新
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目录
第1部分经典测试方法
第1章绪论2
第2章设计流程5
2.1引言5
2.2高层级设计5
2.3基于内核的设计6
2.4时钟8
2.5优化技术12
第3章可测性设计17
3.1引言17
3.2可测性设计方法25
3.3混合信号测试41
第4章边界扫描42
4.1引言42
4.2边界扫描标准42
4.3模拟测试总线48
第2部分SoC的可测性设计
第5章系统建模54
5.1引言54
5.2内核建模55
5.3源端测试建模58
5.4内核封装器59
5.5测试访问机制60
第6章测试冲突61
6.1引言61
6.2测试仪器的局限性61
6.3测试冲突64
6.4讨论70
第7章测试功耗71
7.1引言71
7.2功耗72
7.3系统级功耗建模73
7.4功耗网的热点建模74
7.5内核级功耗建模76
7.6讨论79
第8章测试访问机制80
8.1引言80
8.2测试访问机制设计87
8.3测试时间分析92
第9章测试调度95
9.1引言95
9.2固定测试时间的测试调度98
9.3不固定（可变）测试时间的测试调度106
9.4很好测试时间120
9.5集成测试调度和TAM设计127
9.6测试设计流程中的集成内核选择131
9.7进一步研究134
第3部分SoC测试应用
第10章可重构的功耗敏感性内核封装器136
10.1引言136
10.2背景和相关工作138
10.3可重构的功耗敏感型内核封装器140
10.4很好测试调度142
10.5实验结果151
10.6结论155
第11章用于设计和优化SoC测试解决方案的综合框架156
11.1引言156
11.2背景和相关工作157
11.3系统建模160
11.4SoC测试相关问题162
11.5启发式算法169
11.6模拟退火算法172
11.7实验结果175
11.8结论180
第12章基于内核设计的高效测试解决方案181
12.1引言181
12.2背景和相关工作183
12.3测试问题186
12.4我们的方法200
12.5实验结果208
12.6结论213
第13章片上系统测试设计流程中的内核选择214
13.1引言214
13.2背景215
13.3相关工作217
13.4问题构建220
13.5测试问题及其建模222
13.6测试设计算法227
13.7实验结果232
13.8结论233
第14章缺陷检测与测试调度235
14.1引言235
14.2相关工作236
14.3顺序测试调度237
14.4并行测试调度238
14.5测试调度算法241
14.6实验结果243
14.7结论246
第15章ATE内存约束下的测试向量选择和测试调度集成247
15.1引言247
15.2相关工作249
15.3问题构建250
15.4测试质量指标251
15.5测试调度和测试向量选择254
15.6实验结果259
15.7结论271
附录设计基准273
附.1引言273
附.2输入文件的格式273
附.3Kime设计275
附.4Muresan10设计276
附.5Muresan20设计278
附.6ASIC Z279
附.7扩展ASIC Z281
附.8System L283
附.9Ericsson（爱立信）设计285
附.10System S297
参考文献301
内容摘要
本书旨在讨论片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读，也可作为软件测试领域从业者的参考用书。
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