电子学系统辐射效应与加固技术
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作者许献国,曾超
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787576705409
出版时间2023-05
装帧精装
开本16开
定价128元
货号1203103116
上书时间2024-06-12
商品详情
- 品相描述：全新
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目录
第1章辐射环境
1.1概述
1.2人为辐射环境
1.3大气辐射环境
1.4空间辐射环境
1.5其他辐射环境
1.6本章小结
本章参考文献
第2章辐射与物质的相互作用
2.1概述
2.2荷电粒子与靶物质的相互作用
2.3光子与物质的相互作用
2.4中子与靶物质的相互作用
2.5物质的电离损伤和位移损伤
2.6本章小结
本章参考文献
第3章电子元器件的辐射效应
3.1概述
3.2材料的辐射效应
3.3PN结和二极管、双极晶体管的辐射效应
3.4SiO2/Si界面和场效应晶体管的辐射效应
3.5双极工艺集成电路的辐射效应
3.6CMOS集成电路的辐射效应
3.7光电器件的辐射效应
3.8其他元器件的辐射效应
3.9本章小结
本章参考文献
第4章多物理响应与多物理场作用
4.1概述
4.2多物理响应
4.3多物理场作用
4.4本章小结
本章参考文献
第5章辐射效应的试验与测试
5.1概述
5.2辐射模拟源
5.3剂量测量
5.4宏观特性参数测量
5.5微观特性参数测量
5.6试验方法
5.7本章小结
本章参考文献
第6章辐射环境与辐射效应的计算与仿真
6.1概述
6.2计算与仿真工具
6.3辐射感生缺陷建模与仿真
6.4器件建模与仿真
6.5电路建模与仿真
6.6本章小结
本章参考文献
第7章电子学系统抗辐射加固技术
7.1概述
7.2电子学系统
7.3辐射环境指标分配
7.4辐射屏蔽加固
7.5元器件筛选和加固
7.6电路硬件加固
7.7系统程序加固
7.8本章小结
本章参考文献
第8章抗辐射性能评估
8.1概述
8.2辐射效应试验
8.3辐射效应仿真
8.4抗辐射性能评估
8.5抗辐射加固保证
8.6本章小结
本章参考文献
附录
附录A常用化学和物理参数
附录B材料、元器件的辐射效应数据
附录C离子与材料的相互作用数据
附录D光子与材料的相互作用数据
附录E电子与材料的相互作用数据
附录F中子与材料的相互作用数据
附录G电子与光子射程比数据
缩略语索引
部分彩图
内容摘要
本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1～3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4～6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。
本书适合辐射效应与加固技术相关专业高年级本科生和研究生使用，也可供相关工程技术人员和科研人员参考。
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