工业芯片可靠性设计
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作者赵东艳
出版社西安电子科技大学出版社
ISBN9787560667102
出版时间2023-03
装帧平装
开本其他
定价92元
货号1202841720
上书时间2024-06-03
商品详情
- 品相描述：全新
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