坐标测量技术 原书第2版
全新正版 极速发货
￥ 71.43 5.6折 ￥ 128 全新
库存4件
广东广州
认证卖家担保交易快速发货售后保障
作者(德)阿尔伯特·韦克曼
出版社机械工业出版社
ISBN9787111693758
出版时间2022-03
装帧平装
开本16开
定价128元
货号1202602068
上书时间2024-05-25
商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
-
作者简介
阿尔伯特·韦克曼，教授，博士，工程师。埃尔兰根-纽伦堡大学质量管理和加工测量技术教席教授，在坐标测量技术领域拥有逾30年的坐标测量技术科研经历。
目录
译者序
序
作者简介
第1章 绪论
1.1 加工测量技术的目的与测量对象
1.2 工件的几何形状
1.3 对形状测量和检验的分类
1.4 长度、角度的单位及回溯
1.5 生产用测量机和辅助设备
1.6 坐标测量技术和坐标测量机
1.7 多传感器测量机
1.8 发展历史
参考文献
第2章 测量任务
2.1 测量的目的
2.2 几何特征的规范
2.2.1 公称几何体的表现形式
2.2.2 国际公差原则中的独立原则
2.2.3 线性尺寸
2.2.4 几何公差公差带
2.2.5 形状公差
2.2.6 基准和基准体系
2.2.7 位置公差
2.3 互换性验证
2.3.1 分离
2.3.2 提取
2.4 滤波
2.5 拟合
2.6 产品几何技术规范及检验
参考文献
第3章 基本原则和设备技术
3.1 传统测量
3.1.1 两点尺寸
3.1.2 三点尺寸
3.1.3 正弦台
3.1.4 两点距离
3.1.5 平面上的孔中心距
3.1.6 传统测量技术的总结
3.2 坐标测量技术的基本原理
3.2.1 点的探测和拟合计算
3.2.2 替代面和替代线
3.2.3 测点的最小数量
3.2.4 探测点的数量
3.2.5 工件坐标系的举例
3.2.6 不同的拟合标准
3.2.7 位置偏差的定义
3.2.8 坐标测量技术的体系
3.2.9 传统测量技术与坐标测量技术的比较
3.3 设备技术
3.3.1 设备结构
3.3.2 探针、校正、多重探针、测头半径的修正
3.4 辅助设备
3.4.1 换针设备
3.4.2 旋转测头座
3.4.3 转台
3.4.4 扫描
3.4.5 自动更换工件
3.4.6 减小环境对坐标测量机的影响
3.5 替代测量法
3.6 形状偏差的测量
参考文献
第4章 用于坐标测量的传感器
4.1 接触式测量
4.1.1 引言和基础知识
4.1.2 用于接触式探测的传感器
4.1.3 测量偏差
4.1.4 用于坐标测量技术的接触式三维探测系统实例
4.1.5 接触式探测系统及附件的使用
参考文献
4.2 视觉传感器
4.2.1 成像系统
4.2.2 照明系统
4.2.3 照相技术
4.2.4 图像分析软件
4.2.5 图像处理传感器在坐标测量机中的安装
参考文献
4.3 非接触式距离传感器
4.3.1 测量的基本原理
4.3.2 带傅科刀口的距离传感器
4.3.3 三角测量传感器
4.3.4 摄影测量
4.3.5 条纹投影
4.3.6 变焦
4.3.7 共聚焦距离传感器
4.3.8 白光干涉
4.3.9 锥光距离传感器
参考文献
4.4 扫描探针显微技术
4.4.1 简介与基础知识
4.4.2 具有扫描探针显微技术的坐标测量技术
参考文献
第5章 优选仪器仪表工程学基础
5.1 激光跟踪仪
5.1.1 引言
5.1.2 应用案例
5.1.3 测量不确定度和标准
5.1.4 新技术
5.1.5 总结和展望
参考文献
5.2 关节臂坐标测量机
5.2.1 关节臂坐标测量机的操作
5.2.2 带线性引导的z轴关节臂坐标测量机
5.2.3 多关节臂坐标测量机
5.2.4 关节臂坐标测量机的检测
参考文献
5.3 3D纳米测量和纳米定位设备
5.3.1 引言
5.3.2 纳米定位设备和纳米测量设备的技术现状
5.3.3 激光干涉仪长度测量技术
5.3.4 用于纳米测量仪的激光干涉仪
5.3.5 纳米坐标测量机
参考文献
5.4 X射线断层摄影术
5.4.1 X射线的产生
5.4.2 图像记录
5.4.3 机械结构与辐射防护
5.4.4 体积和测量点计算
5.4.5 X射线法的测量误差
5.4.6 x射线断层坐标测量机应用领域的扩展
5.4.7 x射线断层摄影坐标测量机的应用
参考文献
5.5 光学测量系统
5.5.1 三角测量原理
5.5.2 主动三角测量法对工件表面的非接触式光学检测
5.5.3 被动三角测量法对工件表面的光学检测
5.5.4 摄影测量跟踪系统的几何测量
5.5.5 光线传播时间法的非接触式光学几何测量
5.5.6 镜面的光学几何测量
参考文献
5.6 多传感器测量
5.6.1 多视角的光学测量系统
5.6.2 多传感器三坐标测量仪
参考文献
5.7 室内GPS（全球定位系统）
5.7.1 iGPS的工作原理及组成
5.7.2 测量系统的缩放
5.7.3 测量系统中不均匀的误差分布
5.7.4 应用示例：机器人控制
参考文献
5.8 集成进机床的测量技术
5.8.1 制造测量技术的定义和分类
5.8.2 预处理和后处理测量技术
5.8.3 三维校准的潜力
5.8.4 集成在机床上的传感器
5.8.5 在线测量技术
5.8.6 气动在线测量技术
5.8.7 未来发展
参考文献
第6章 由设计图经检验计划再到检测计划
6.1 检验规划介绍
6.1.1 资料审查
6.1.2 特征识别
6.1.3 检验特征的选择
6.1.4 完成检验特征的处理（适用）
内容摘要
随着我国制造业的转型升级和智能制造的发展，测量技术的作用越来越重要。
本书由德国埃尔兰根-纽伦堡大学阿尔伯特·韦克曼（Albert Weckenmann）教授等专家著写而成，书中详细介绍了坐标测量技术，包括测量任务，测量原则和设备技术，用于坐标测量的传感器，优选仪器仪表工程学基础，由设计图经检验计划再到检测计划，由检测计划经编程、执行和评定直至测量结果表示，特殊的测量任务，测量不确定度和测量值的可回溯性，测量经济性，以及测量培训等内容。
本书既可作为坐标测量技术的综合性入门专业书和参考书，也可作为坐标测量等相关专业的教材和参考书。
相关推荐
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价