表面分析技术

图书标准信息

• 作者 [英]伊恩·S·吉尔摩 编；陈建 译；[英]约翰·C·维克曼
• 出版社 中山大学出版社
• 出版时间 2020-12
• 版次 1
• ISBN 9787306066893
• 定价 200.00元
• 装帧 其他
• 开本 其他
• 纸张 胶版纸
• 字数 732千字

【内容简介】

本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。

【作者简介】

陈建，中山大学研究员、博士生导师，主要研究领域包括材料的分子光谱和电子能谱分析、纳米材料表面和界面性能研究等。