【假一罚四】光电材料表征技术
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浙江嘉兴
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作者季振国 等
出版社浙江大学出版社
ISBN9787308219532
出版时间2022-01
装帧平装
开本16开
定价78元
货号31370228
上书时间2024-12-21
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商品详情
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导语摘要
本书从材料专业的特点出发，介绍光电材料各种参数的表征方法，并以材料参数为章节进行描述，让读者了解某个材料参数可以用哪些表征手段进行表征，而对具体仪器设备的工作原理和结构只做简单且必要的介绍。
本书的内容主要涉及光电材料的表征，但是相关表征技术并不局限于光电材料，原则上也可用于其他材料的表征。本书主要供材料领域研究人员参考，也可作为材料学科研究生和高年级本科生相关课程的教材与参考书。
目录
第1章 元素成分分析
1.1 X射线荧光光谱
1.1.1 X射线源
1.1.2 轫致辐射
1.1.3 X射线荧光光谱仪的基本原理
1.1.4 元素浓度
1.1.5 线扫描和面分布
1.1.6 影响定量分析的因素
1.1.7 掠入射／全反射X射线荧光
1.1.8 单色光源X射线荧光
1.1.9 真空环境X射线荧光
1.1.10 其他
1.2 X射线吸收谱
1.2.1 X射线吸收边
1.2.2 X射线吸收谱的测量方法
1.2.3 应用实例
1.2.4 其他
1.3 光电子能谱
1.3.1 光电子
1.3.2 光电子能谱仪的基本构造
1.3.3 光电子峰的标记
1.3.4 光电子能谱中的背景信号
1.3.5 光电子能谱的表面灵敏度
1.3.6 超高真空系统
1.3.7 表面清洁／溅射离子枪
1.3.8 中和电子枪
1.3.9 定量分析
1.3.10 电子能量分析器工作模式
1.3.11 微区分析、线扫描和面分布
1.3.12 样品荷电
1.4 俄歇电子能谱
1.4.1 俄歇电子
1.4.2 俄歇电子峰的标记
1.4.3 强度谱和微分谱
1.4.4 俄歇电子能谱的激发源
1.4.5 筒镜式电子能量分析器一电子枪集成
1.4.6 球栅形阻止势电子能量分析器
1.4.7 表面灵敏度
1.4.8 谱图处理
1.4.9 表面荷电问题
1.4.10 俄歇电子峰的背景信号问题
1.4.11 微区分析、线扫描和面分布
1.4.12 电子束造成的表面损伤
1.4.13 电子能量分析器工作模式
1.5 二次离子质谱
1.5.1 离子溅射
1.5.2 二次离子质谱仪的基本结构
1.5.3 离子的质荷比
1.5.4 离子溅射产额
1.5.5 质量分析器
内容摘要
本书主要介绍光电材料涉及的表征技术，并以大量实例辅助说明。全书分为元素成分分析、元素价态分析、晶体结构分析、表面形貌分析、薄膜厚度测量、光学性能测量、
电学性能测量等部分。
本书从材料研究人员角度出发介绍材料表征技
术，重在介绍各种技术在材料领域的应用，以用为主，具有较强的科学性和实用性。
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