【假一罚四】LabVIEW与天线测量技术

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浙江嘉兴

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作者马玉丰 ... [等] 编著

出版社西安电子科技大学出版社

ISBN9787560668413

出版时间2023-06

装帧其他

开本其他

定价49元

货号4394821

上书时间2024-12-18

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商品描述: 目录
本书共15章, 分为三篇。第1章至第10章为基础篇, 介绍了LabVIEW的基础知识, 包括认识LabVIEW, 启动界面、前面板与菜单, 数据格式, 循环与事件结构, 文件I/O, 画图与显示, MAX与仪器驱动、接口, VI显示设置与美化, 程序代码的保护, 生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇, 给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇, 介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解, 可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识, 这些都是天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。

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