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半导体器件失效分析

160 八品

仅1件

重庆大渡口
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作者邓永孝

出版社宇航岀版社出版

出版时间1991-04

版次1

印刷时间1991-04

印次1

装帧平装

开本32开

货号170C

上书时间2023-11-20

合顺书局

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   商品详情   

品相描述:八品

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