现代光学测试技术
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作者苏俊宏,田爱玲,杨利红
出版社科学出版社
ISBN9787030366641
出版时间2023-12
装帧平装
开本16开
定价88元
货号29603102
上书时间2024-10-21
商品详情
- 品相描述：全新
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导语摘要
现代光学测试技术研究领域包括光干涉技术、光衍射技术、光偏振技术、光全息技术、光扫描技术、光散斑技术、莫尔技术、光谱技术、光纤技术，等等。本书涉及内容除基本光学测量技术外，主要以光干涉测试技术为主，介绍了各种光学量的测试原理及测试方法。全书共11章。第一、二章系统地介绍了现代光学测试技术的基本理论及其发展；第三章介绍了光学材料及其基本参数的测试问题；第四章系统介绍了几种常用的典型干涉仪；第五章是光电相位探测技术；第六、七章分别介绍了平面元件与球面元件测试技术；第八章介绍了非球面测试技术的基本知识及测试方法；第九章介绍了干涉测长技术；第十章介绍了莫尔条纹测量技术；第十一章介绍了光学系统成像质量评价方法。
内容摘要
现代光学测试技术研究领域包括光干涉技术、光衍射技术、光偏振技术、光全息技术、光扫描技术、光散斑技术、莫尔技术、光谱技术、光纤技术，等等。本书涉及内容除基本光学测量技术外，主要以光干涉测试技术为主，介绍了各种光学量的测试原理及测试方法。全书共11章。第一、二章系统地介绍了现代光学测试技术的基本理论及其发展；第三章介绍了光学材料及其基本参数的测试问题；第四章系统介绍了几种常用的典型干涉仪；第五章是光电相位探测技术；第六、七章分别介绍了平面元件与球面元件测试技术；第八章介绍了非球面测试技术的基本知识及测试方法；第九章介绍了干涉测长技术；第十章介绍了莫尔条纹测量技术；第十一章介绍了光学系统成像质量评价方法。
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