集成电路芯片测试技术

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四川成都

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作者居水荣

出版社西安电子科技大学出版社

ISBN9787560659541

出版时间2021-03

装帧平装

开本16开

定价35元

货号9787560659541

上书时间2024-10-19

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商品描述: 作者简介

目录
章引言1

1.1集成电路测试在产业链中的地位1

1.2集成电路测试原理及其应用3

1.2.1集成电路测试原理3

1.2.2集成电路测试的应用3

1.3集成电路测试分类4

1.4"集成电路开发及应用"赛项简介4

第2章集成电路测试技术6

2.1几个集成电路测试的重要概念6

2.1.1故障及其诊断6

2.1.2测试规范6

2.1.3测试方式和判断7

2.1.4测试工艺8

2.2集成电路的静态和动态测试10

2.2.1静态测试10

……

内容摘要
本书是从微电子产业实际岗位需求出发，结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写，具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等，同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。

本书可作为高职院校微电子技术专业的核心课程教材，亦可作为全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项的备赛训练参考教材。

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