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材料分析测试技术

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作者周玉、武高辉 著

出版社哈尔滨工业大学出版社

出版时间2007-08

版次1

装帧平装

货号9787560313382

上书时间2024-05-21

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品相描述:八五品
图书标准信息
  • 作者 周玉、武高辉 著
  • 出版社 哈尔滨工业大学出版社
  • 出版时间 2007-08
  • 版次 1
  • ISBN 9787560313382
  • 定价 26.80元
  • 装帧 平装
  • 开本 其他
  • 纸张 胶版纸
  • 页数 283页
  • 字数 421千字
  • 正文语种 简体中文
【内容简介】
  《材料分析测试技术》介绍了用x射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:x射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及x射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及x射线光电子能谱仪等显微分析方法,并附有实验指导书和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。
【目录】
绪论
第一章 X射线的性质
1-1 引言
1-2 X射线的本质
1-3 X射线的产生及X射线管
1-4 X射线谱
1-5 X射线与物质的相互作用
1-6 X射线的安全防护
习题

第二章 X射线衍射方向
2-1 引言
2-2 晶体几何学基础
2-3 衍射的概念与布拉格方程
2-4 布拉格方程的讨论
2-5 衍射方法
习题

第三章 X射线衍射强度
3-1 引言
3-2 结构因子
3-3 多晶体的衍射强度
3-4 积分强度计算举例
习题

第四章 多晶体分析方法
4-1引言
4-2 粉末照相法
4-3 X射线衍射仪
4-4 衍射仪的测量方法与实验参数
4-5 点阵常数的精确测定
习题

第五章 X射线物相分析
5-1 引言
5-2 定性分析的原理和分析思路
5-3 粉末衍射卡片的组成
5-4 PDF卡片的索引
5-5 物相定性分析方法
5-6 物相定量分析
习题

第六章宏观应力测定
6-1引言
6-2 单轴应力测定原理
6-3 平面应力测定原理
6-4 试验方法
6-5 试验精度的保证及测试原理的适用条件
习题

第七章电子光学基础
7-1电子波与电磁透镜
7-2 电磁透镜的像差与分辨本领
7-3 电磁透镜的景深和焦长
习题

第八章透射电子显微镜
8-1 透射电子显微镜的结构与成像原理
8-2 主要部件的结构与工作原理
8-3 透射电子显微镜分辨本领和放大倍数的测定
习题

第九章复型技术
9-1概述
9-2 质厚衬度原理
9-3 一级复型和二级复型
9-4 萃取复型与粉末样品
习题

第十章电子衍射
10-1 概述
10-2 电子衍射原理
10-3 电子显微镜中的电子衍射
10-4 单晶体电子衍射花样标定
10-5 复杂电子衍射花样
习题

第十一章晶体薄膜衍衬成像分析
11-1概述
11-2 薄膜样品的制备
11-3 衍衬成像原理
11-4 消光距离
11-5 衍衬运动学简介
11-6 晶体缺陷分析
习题
第十二章扫描电子显微镜
第十三章电子探针显微分析
第十四章其它显微分析方法简介
实验指导书
主要参考文献
附录
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