• 现货Modern Characterization of Electromagnetic Systems and Its Associated Metrology[9781119076469]
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现货Modern Characterization of Electromagnetic Systems and Its Associated Metrology[9781119076469]

1530 九五品

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上海宝山
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作者Sarkar, Tapan K ; Salazar-Palma, Magdalena ; Zhu, Ming Da ; Chen, Heng

出版社Wiley-IEEE Press

ISBN9781119076469

出版时间2021-08

装帧精装

纸张其他

页数720页

正文语种英语

上书时间2024-03-15

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   商品详情   

品相描述:九五品
商品描述
This book describes new method of characterization of  electromagnetic wave dynamics and measurement, which are based on  modern computational and digital signal processing  techniques.?The book introduces modern computational concepts  in electromagnetic system characterization and introduce modern  signal processing algorithms not only to enhance the resolution but  also extract information from electromagnetic systems that is not  currently possible, for example, generation of the non-minimum  phase or for that matter the transient response given amplitude  only data. The author covers model based parameter estimation and  planar near field to far field transformation, as well as spherical  near field to far field transformation.

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