数字射线无损检测技术

图书标准信息

• 作者 郑世才 著
• 出版社 机械工业出版社
• 出版时间 2012-04
• 版次 1
• ISBN 9787111374107
• 定价 36.00元
• 装帧 平装
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 171页
• 字数 228千字
• 正文语种 简体中文

【内容简介】

《数字射线无损检测技术》主要内容包括简要的射线检测技术的物理基础，数字射线检测技术的主要设备、器材（特别是辐射探测器），数字射线检测技术理论，数字射线检测基本技术，数字射线检测常用技术，底片图像数字化扫描技术等。《数字射线无损检测技术》的核心内容是，从成像过程的基本理论和数字周像的基本理论，给出了射线检测数字图像的基本理论，并在此基础上阐述数字射线检测的基本技术。而且用单独一节讨论了数字射线检测技术与胶片射线照相检测技术的“等价性问题”，可以为正确应用数字射线检测技术提供帮助。《数字射线无损检测技术》可供从事射线检测的技术人员、科研人员阅读，也可供高等院校相关专业的师生参考。

【目录】

前言
第1章射线检测技术的物理基础
1.1射线概念
1.1.1射线分类
1.1.2X射线
1.1.3Y射线
1.2射线与物质的相互作用
1.2.1光电效应
1.2.2康普顿效应
1.2.3电子对效应
1.2.4瑞利散射
1.3射线衰减规律
1.3.1基本概念
1.3.2单色窄束射线衰减规律
1.3.3宽束连续谱射线的衰减规律
1.4射线检测技术的基本原理

第2章射线机与像质计
2.1X射线机
2.1.1X射线机的基本结构
2.1.2X射线管
2.1.3X射线机的类型
2.1.4X射线机的技术性能
2.2y射线机
2.3加速器
2.4像质计
2.4.1像质计概述
2.4.2射线检测的常规像质计
2.4.3双丝型像质计
2.5线对卡

第3章辐射探测器
3.1辐射探测器概述
3.2辐射探测器的物理基础
3.3半导体辐射探测器
3.3.1半导体辐射探测器的原理
3.3.2半导体辐射探测器的基本结构
3.3.3非晶硅辐射探测器
3.3.4非晶硒辐射探测器
3.3.5闪烁体结合CCD（或CMOS）探测器
3.4闪烁辐射探测器
3.4.1闪烁辐射探测器的原理与结构
3.4.2光电倍增管
3.4.3图像增强器
3.4.4IP板
3.5气体辐射探测器
3.6A/D转换器

第4章成像过程基本理论
4.1成像过程概念
4.2成像过程的空间域分析
4.3成像过程的空间频域分析
4.4线扩散函数、边扩散函数与不清晰度
4.5瑞利判据

第5章数字图像基本理论
5.1数字图像概念
5.2图像数字化过程
5.2.1采样与采样定理
5.2.2图像幅值量化
5.2.3数字化对图像的影响
5.3数字射线检测图像质量
5.3.1数字射线检测图像的对比度
5.3.2数字射线检测图像的空间分辨率

第6章数字射线检测基本技术
6.1数字射线检测技术的基本过程
6.2数字射线检测技术控制的基本关系式
6.2.1检测图像对比度
6.2.2检测图像不清晰度
6.3透照技术
6.3.1透照布置
6.3.2透照参数
6.3.3最佳放大倍数
6.3.4散射线防护
6.4图像数字化技术
6.4.1图像数字化技术概述
6.4.2直接数字化技术辐射探测器选择
6.4.3间接数字化技术的图像数字化技术控制
……
第7章常用数字射线检测技术
第8章底片图像数字化扫描技术
附录
参考文献