互换性与技术测量
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作者王海文、石琳、张翠芳 著
出版社华中科技大学出版社
ISBN9787568028578
出版时间2017-09
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数240页
字数384千字
定价35元
货号D1
上书时间2024-12-11
商品详情
- 品相描述：全新
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