阵列天线分析与综合
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全新
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作者薛正辉, 李伟明, 任武编著
出版社高等教育出版社
ISBN9787040606751
出版时间2024-03
装帧其他
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定价64元
货号4572184
上书时间2024-12-27
商品详情
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目录
本书包括非均匀相位激励分析、扫描线阵之相扫频扫实现、维伦纽夫 (Villeneuve) 综合法、差方向图的佐洛塔廖夫 (Zolotarev) 综合法、平面阵的栅瓣及其抑制条件、平面阵栅格形状及扫描、平面阵列的性能总结、赋形方向图的优化综合--变尺度算法、赋形方向图的优化综合--欧查德-埃利奥特 (Orchard-Elliott) 方法、基于遗传算法的阵列天线优化综合、基于粒子群算法的阵列天线优化综合等。本书是阵列天线工程应用的基础理论部分, 主要侧重于介绍阵列天线分析与综合设计中的数学方法与实施手段。
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