电子学系统辐射效应与加固技术

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作者许献国, 曾超著

出版社哈尔滨工业大学出版社

ISBN9787576705409

出版时间2023-05

装帧精装

开本其他

定价128元

货号4434662

上书时间2024-12-25

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商品描述: 目录
本书从辐射损伤机理和抗辐射加固实践出发, 系统全面地介绍了中子、光子、带电粒子等与电子学系统的金属、半导体、绝缘材料的相互作用, 半导体敏感结构辐射感生缺陷的空间和时间多尺度演化机制, 半导体器件、集成电路的辐射效应规律, 电子学系统的辐射屏蔽、元器件筛选、器件工艺加固、电路设计加固以及系统总体加固技术, 辐射效应多尺度、多物理高确信建模和仿真方法, 系统的抗辐射加固裕度和不确定的量化评估先进方法等。

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