宇航MOSFET器件单粒子辐射加固技术与实践
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作者付晓君 ... [等] 编著
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787576705416
出版时间2023-05
装帧精装
开本其他
定价98元
货号4434663
上书时间2024-12-25
商品详情
- 品相描述：全新
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目录
本书系统地介绍了宇航功率MOSFET器件的单粒子效应机理和加固技术。全书共6章, 主要内容包括空间辐射环境与基本辐射效应、宇航功率MOSFET器件空间辐射效应及损伤模型、宇航功率MOSFET抗单粒子加固技术和试验评估技术。书中以一款宇航VDMOS器件为实例, 详述了抗单粒子加固样品的结构设计和制造工艺细节。
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