UVM芯片验证技术案例集
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119
全新
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作者马骁编著
出版社清华大学出版社
ISBN9787302658542
出版时间2024-05
装帧平装
开本其他
定价119元
货号4591353
上书时间2024-12-05
商品详情
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目录
本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书, 包括对多种实际问题场景下的解决专题, 推荐作为UVM的进阶教材进行学习。不同于带领读者学习UVM的基础用法, 本书分为多个专题, 每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题, 相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤, 实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景, 解决的思路、基本原理、步骤, 并给出了示例代码供参考。
内容摘要
本书是基于UVM验证方法学的针对芯片验证实际工程场景的技术专题工具书,包括对多种实际问题场景下的解决专题,推荐作为UVM的进阶教材进行学习。
不同于带领读者学习UVM的基础用法,本书分为多个专题,每个专题专注解决一种芯片验证场景下的工程问题,相关技术工程师可以快速参考并复现解决思路和步骤,实用性强。本书详细描述了每个专题要解决的问题、背景,解决的思路、基本原理、步骤,并给出了示例代码供参考。
本书适合具备一定基础的相关专业的在校大学生或者相关领域的技术工程人员进行阅读学习,书中针对多种芯片验证实际工程场景给出了对应的解决方法,具备一定的工程参考价值,并且可以作为高等院校和培训机构相关专业的教学参考书。
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