晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
正版保障 假一赔十 电子发票
￥ 92.46 6.2折 ￥ 149 全新
库存36件
作者马秀良著
出版社高等教育出版社
ISBN9787040610963
出版时间2024-01
装帧精装
开本其他
定价149元
货号4526620
上书时间2024-11-14
商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
-
目录
本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例, 主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开, 包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系, 涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体, 共40余种物相。
相关推荐
-
晶体结构与缺陷
八品桂林
￥ 339.00
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新北京
￥ 111.75
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新长沙
￥ 81.89
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新北京
￥ 125.99
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新北京
￥ 121.94
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新宿州
￥ 118.80
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新武汉
￥ 96.88
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新南昌
￥ 84.61
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新武汉
￥ 92.41
-
晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
全新武汉
￥ 93.90
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价