Characterization of organic thin films
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作者Abraham Ulman
出版社哈尔滨工业大学出版社
ISBN9787560342870
出版时间2014-01
装帧其他
开本其他
定价98元
货号2002371
上书时间2024-10-12
商品详情
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导语摘要
最近几十年，研究有机薄膜的分析技术经历了引人注目的发展。使用这些技术能够在分子级水平获得结构信息，这样就可以将材料结构与材料性质联系起来。有机薄膜表征一书可以帮助材料科学家、物理学家、化学家及生物学家对结构与材料的关系有一个基础性理解，这反过来也可以使先进材料的分子工程变为可能并且在分子制造领域开创新机会。《有机薄膜的表征》(作者布伦德尔、埃文斯、乌尔曼)以关于Langmuir—Blodgett与自组装膜的介绍性章节作为开始，接着讨论了利用不同分析技术研究其性质，表面/界面与体特性都包含其中。
目录
最近几十年, 研究有机薄膜的分析技术经历了引人注目的发展。使用这些技术能够在分子级水平获得结构信息, 这样就可以将材料结构与材料性质联系起来。有机薄膜表征一书可以帮助材料科学家、物理学家、化学家及生物学家对结构与材料的关系有一个基础性理解, 这反过来也可以使先进材料的分子工程变为可能并且在分子制造领域开创新机会。本卷以关于Langmuir-Blodgett与自组装膜的介绍性章节作为开始, 接着讨论了利用不同分析技术研究其性质, 表面/界面与体特性都包含其中。
内容摘要
《有机薄膜的表征》内容介绍：Analyticaltoolsforthestudyoforganicthinfilmshaveseendramaticdevelopmentsinthelastdecade.Usingsuchtoolsithasbecomepossibletoobtainstructuralinformationatthemolecularlevelandthustorelatematerialsstructuretomaterialsproperties.CharacterizationofOrganicThinFilmswillhelpmaterialsscientists,physicists,chemists,andbiologistsdevelopafundamentalunderstandingofstructure—propertiesrelationshipswhichinturnmakespossiblemolecularengineeringofadvancedmaterialsandopensnewopportunitiesinmolecularmanufacturing.Thisvolumebeginswithintroduc—torychaptersonLangmuir—Blodgettandself—assembledfilms,andcontinueswiththediscussionoftheirpropertiesasstudiedbydifferentanalyticaltech—niques.Boththeirsurface/interfacialandbulkpropertiesarecovered.《有机薄膜的表征》的作者是布伦德尔、埃文斯、乌尔曼。
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