功率半导体器件
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全新
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作者邓二平, 黄永章, 丁立健编著
出版社化学工业出版社
ISBN9787122449344
出版时间2024-05
装帧平装
开本其他
定价139元
货号4598038
上书时间2024-07-10
商品详情
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作者简介
无
目录
本书讲述了功率半导体器件的基本原理, 涵盖Si器件、SiC器件, GaN器件以及GaAs器件等; 综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等; 将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等, 并详细介绍了测试标准、方法和原理, 同步分析了测试设备和数据等; 重点从测试标准、方法、理论和实际应用各方面, 详细介绍了高温可靠性测试和封装可靠性测试及其难点。本书结合企业实际需求, 贴近工业实践, 知识内容新颖, 可为工业界以及高校提供前沿数据, 为高校培养专业人才奠定基础。
内容摘要
本书讲述了功率半导体器件的基本原理,涵盖Si器件、SiC器件,GaN器件以及GaAs器件等;综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等;将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等,并详细介绍了测试标准、方法和原理,同步分析了测试设备和数据等;重点从测试标准、方法、理论和实际应用各方面,详细介绍了高温可靠性测试和封装可靠性测试及其难点。本书结合企业实际需求,贴近工业实践,知识内容新颖,可为工业界以及高校提供前沿数据,为高校培养专业人才奠定基础。
本书可作为功率半导体领域研究人员、企业技术人员的参考书,也可作为电力电子、微电子等相关专业高年级本科生和研究生教材。
主编推荐
★★★★★ 内容全面,技术前沿:从功率半导体器件的基础,到封装、测试、可靠性。
★★★★★ 全面掌握功率芯片测试技术:测试标准、方法、原理、设备、数据分析等等。
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