数据域测试及仪器:数字系统的故障诊断及可测性设计
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八品
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作者陈光〓、张世箕 编著
出版社电子科技大学出版社
出版时间2001
版次3
货号一
上书时间2023-07-24
商品详情
- 品相描述:八品
图书标准信息
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作者
陈光〓、张世箕 编著
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出版社
电子科技大学出版社
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出版时间
2001
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版次
3
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ISBN
9787810656320
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定价
24.00元
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装帧
其他
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开本
26cm
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页数
306页
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正文语种
简体中文
- 【内容简介】
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本书分七章,阐述了组合逻辑、时序逻辑和微机系统的测试方法,以及数字系统的计算机辅助设计测试,并对可测性设计作了深入的分析。
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