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光电测试技术

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作者刘国栋,赵辉,浦昭邦 主编

出版社机械工业出版社

ISBN9787111585640

出版时间2018-04

装帧平装

开本16开

定价49.8元

货号1201696274

上书时间2024-10-12

评价4246好评率 99.46%

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品相描述：全新
商品描述
目录
前言
上篇技术基础篇
章光电测试技术概论
节信息技术与光电测试技术
第二节光电测试系统的组成
第三节光电测试技术的特点及其展望
复习思考题
第二章光电测量的光学基础
节光度的基本物理量
一、光谱光视效能
二、光度的基本物理量
第二节光度学基本定律
一、余弦定律
二、亮度守恒定律
三、照度与距离二次方反比定律
第三节光辐射在空气中的传播
一、大气衰减
二、空气湍流效应
第四节光电测试技术中常用的光学系统
一、显微光学系统
二、摄影光学系统
……
参考文献

内容摘要
本书为高等工科院校“测控技术与仪器” “光电信息工程” “光电子技术”等专业的“光电测试技术”课程通用教材。 本书首先系统地介绍了光电测量所必需的基础理论，即光度学的基本理论和常用的光学系统，然后深入、重点地讲述了光电测量的三大基本要素：光源、光电检测器件和光电检测电路。 在本书的下篇（应用技术篇），重点讲述了光电测量的核心技术：光学变换与光电变换技术及其测量系统，包括光载波的调制变换技术、非相干信号的光电变换与检测技术、相干信号调制变换与检测技术。介绍了现代三大热门测试技术，即激光测量技术、视觉检测技术和光纤测量技术，使读者对光电测试系统及其应用有了更深入的了解。 为了方便教学，本书配有免费教学课件。

精彩内容
《光电测试技术》一书自出版以来，已得到许多使用本书的高等院校的好评。尤其是本书的光电器件与光电测试的一体化结构，不仅具有很好的系统性，更有利于读者的学习和应用。    光电测试技术的核心是“两个变换”，即测量信息对光信息的变换和光信息对电信息的变换。    光电探测器件是实现光信息对电信息变换（光电变换） 的核心器件，在本书第２版强调光电器件基础理论（光电效应和光电特性） 的基础上，第３版则加强了其实用性，尤其对应用越来越广泛的光电成像器件进行了内容扩展和使用举例。光电检测电路是光电器件应用的重要方面，第３版中以实用为准则，对内容重新编排，并增加了光电发光器件的电路内容。    测量信息对光信息的变换是光电测量的关键，本书将这部分内容统一在下篇论述。光载波的调制与变换是基础，非相干光与相干光信号的变换与测量是其主要方法，这种编排力求使光电测试技术的内容更加通俗易懂和实用。    本书由哈尔滨工业大学刘国栋教授、浦昭邦教授和上海交通大学赵辉教授主编。浦昭邦教授虽年事已高，但对本书的再版提出了许多宝贵意见，对本书体系的建立做了许多工作。    参加编写的有哈尔滨工业大学刘国栋（～三章，第九章、二节），北京理工大学蓝天（第四章～五节），北京航空航天大学屈玉福（第四章第六～七节，第九章第三节），上海交通大学赵辉（第五章、第九章第四节），哈尔滨工业大学庄志涛（第六章），哈尔滨工业大学胡涛（第七章）和上海交通大学陶卫（第八章）。    全书由厦门大学黄元庆教授和北京信息科技大学吕乃光教授主审，由哈尔滨工业大学马晶月完成本书的统稿整理。    本书参阅了大量的参考资料，在此谨向有关作者表示衷心感谢。    由于编者水平有限，难免有疏漏和错误。恳请广大读者指正，以便进一步修订和完善。    编者

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