片上系统测试设计与优化
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作者(瑞典) 埃里克·拉森著
出版社科学出版社
ISBN9787030769183
出版时间2024-01
装帧平装
开本其他
定价88元
货号4511698
上书时间2024-12-20
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商品详情
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目录
本书旨在讨论片上系统 (SoC) 测试的相关问题, 包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂, 测试数据量不断增加, 如何组织测试, 即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成, 在概述经典测试方法的基础上, 介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难, 并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。
内容摘要
本书旨在讨论片上系统（SoC）测试的相关问题，包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂，测试数据量不断增加，如何组织测试，即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。
本书由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。
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