嵌入式实时系统调试
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浙江嘉兴
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作者阿诺德 · S.伯格(Arnold S.Berger)
出版社机械工业
ISBN9787111727033
出版时间2023-05
装帧其他
开本其他
定价79元
货号31749153
上书时间2024-10-13
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商品详情
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目录
译者序<br />前言<br />第1章 问题在何处 / 1<br />参考文献 / 8<br />第2章 系统化的调试方法 / 9<br />2.1 调试的六个阶段 / 9<br />2.1.1 谁有故障 / 12<br />2.1.2 我遇到过的一个缺陷 / 12<br />2.2 参考文献 / 22<br />第3章 嵌入式软件调试的最佳实践 / 23<br />3.1 引言 / 23<br />3.2 造成嵌入式系统与众<br /> 不同的原因 / 24<br />3.2.1 嵌入式系统专门用于特定<br /> 的任务，而PC是通用的<br /> 计算平台 / 24<br />3.2.2 软件失效在嵌入式系统中<br /> 造成的影响要比在桌面系<br /> 统中严重得多 / 24<br />3.2.3 嵌入式系统具有实时性约束 / 25<br />3.2.4 嵌入式系统可被各式各样<br /> 的处理器以及处理器架构<br /> 支持 / 26<br />3.2.5 嵌入式系统通常对成本<br /> 非常敏感 / 26<br />3.2.6 嵌入式系统具有功耗限制 / 27<br />3.2.7 嵌入式系统必须能在极端<br /> 环境下工作 / 27<br />3.2.8 嵌入式系统的资源要比桌面<br /> 系统少得多 / 27<br />3.2.9 嵌入式微处理器通常具有<br /> 专用调试电路 / 27<br />3.2.10 如果嵌入式系统用到了操作<br /> 系统，那么它所用的很可能<br /> 是实时操作系统 / 28<br />3.3 嵌入式系统调试的最佳实践 / 28<br />3.4 通用软件调试最佳实践 / 32<br />3.5 嵌入式软件调试最佳实践 / 36<br />3.6 内存泄漏 / 37<br />3.7 时钟抖动 / 39<br />3.8 优先级反转 / 40<br />3.9 栈溢出 / 40<br />3.10 本章小结 / 41<br />3.11 拓展读物 / 42<br />3.12 参考文献 / 43<br />第4章 调试嵌入式硬件的最佳实践 / 44<br />4.1 概述 / 44<br />4.2 硬件调试过程 / 44<br />4.3 设计评审 / 45<br />4.4 测试计划 / 47<br />4.5 可测试性设计 / 49<br />4.6 构建流程 / 50<br />4.7 了解你的工具 / 53<br />4.8 微处理器设计最佳实践 / 57<br />4.8.1 引言 / 57<br />4.8.2 可测试性设计 / 57<br />4.8.3 考虑PCB问题 / 58<br />4.9 本章小结 / 63<br />4.10 拓展读物 / 64<br />4.11 参考文献 / 64<br />第5章 嵌入式设计与调试工具概览 / 66<br />5.1 概述 / 66<br />5.2 调试器 / 66<br />5.3 软硬件协同验证 / 69<br />5.4 ROM仿真器 / 73<br />5.5 逻辑分析仪 / 77<br />5.6 逻辑分析仪的优势 / 84<br />5.7 逻辑分析仪的问题 / 84<br />5.8 在线仿真器 / 85<br />5.9 拓展读物 / 89<br />5.10 参考文献 / 89<br />第6章 硬件/软件集成阶段 / 90<br />6.1 概述 / 90<br />6.2 硬件/软件集成图 / 90<br />6.3 非标准硬盘驱动器接口的案例 / 91<br />6.4 向量显示器的最后关头 / 92<br />6.5 性能差劲的仿真器卡笼 / 92<br />6.6 功能蠕变和大客户 / 93<br />6.7 参考文献 / 108<br />第7章 片上调试资源 / 110<br />7.1 概述 / 110<br />7.2 后台调试模式 / 111<br />7.3 JTAG / 112<br />7.4 MIPS EJTAG / 115<br />7.5 本章小结 / 116<br />7.6 参考文献 / 118<br />第8章 片上系统 / 119<br />8.1 概述 / 119<br />8.2 现场可编程门阵列 / 120<br />8.3 虚拟化 / 126<br />8.4 本章小结 / 129<br />8.5 拓展读物 / 130<br />8.6 参考文献 / 130<br />第9章 隔离缺陷的测试方法 / 131<br />9.1 概述 / 131<br />9.2 查找问题的障碍 / 131<br />9.3 临时应急 / 132<br />9.4 寻求帮助 / 132<br />9.5 故障隔离 / 133<br />9.5.1 了解你的工具 / 134<br />9.5.2 理解你的设计 / 136<br />9.6 与性能相关的故障 / 137<br />9.7 可复现故障 / 137<br />9.8 间歇性故障 / 138<br />9.9 合规故障 / 141<br />9.10 扩频振荡器 / 142<br />9.11 热故障 / 144<br />9.12 机械问题 / 146<br />9.13 与供电相关的故障 / 147<br />9.14 本章小结 / 149<br />9.15 参考文献 / 151<br />第10章 调试实时操作系统 / 152<br />10.1 概述 / 152<br />10.2 RTOS中的缺陷 / 152<br />10.3 同步问题 / 153<br />10.4 内存崩溃 / 154<br />10.5 与中断相关的问题 / 155<br />10.6 意想不到的编译器优化 / 157<br />10.7 异常 / 157<br />10.8 RTOS感知工具：一个示例 / 159<br />10.9 参考文献 / 163<br />第11章 串行通信系统 / 164<br />11.1 引言 / 164<br />11.2 RS-232 / 165<br />11.3 错误的COM端口分配 / 165<br />11.4 不正确的电缆引脚 / 166<br />11.5 错误的波特率（时钟频率） / 166<br />11.6 不正确的流控 / 167<br />11.7 I2C和SMBus协议 / 168<br />11.8 SPI协议 / 171<br />11.9 工具 / 174<br />11.10 控制器局域网络（CAN总线） / 174<br />11.11 本章小结 / 175<br />11.12 拓展读物 / 175<br />11.13 参考文献 / 175<br />第12章 存储器系统 / 177<br />12.1 概述 / 177<br />12.2 通用测试策略 / 177<br />12.3 静态RAM / 178<br />12.4 动态RAM / 183<br />12.5 软错误 / 186<br />12.6 抖动 / 188<br />12.7 基于软件的存储器错误 / 189<br />12.8 本章小结 / 190<br />12.9 参考文献 / 191<br />缩略语 / 192
内容摘要
通过对真实案例的学习和对专业工具（例如逻辑分析仪、JTAG调试器和性能分析仪）的广泛研究，本书提出了调试实时系统的实践方法。它遵循嵌入式系统的传统设计生命周期原理，指出了哪里会导致错误，进一步阐述如何在将来的设计中发现和避免错误。它还研究了应用程序性能监控、单个程序运行跟踪记录以及多任务OS中单独运行应用的其它的调试和控制方法。
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