• 晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例

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作者马秀良

出版社高等教育出版社

ISBN9787040610963

出版时间2024-01

版次1

装帧其他

开本16开

纸张胶版纸

页数604页

字数720千字

定价149元

货号9787040610963

上书时间2024-11-29

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