光电测试技术（第3版）
正版保障 假一赔十 可开发票
￥ 37.06 8.2折 ￥ 45 全新
库存7件
广东广州
认证卖家担保交易快速发货售后保障
作者范志刚 编著
出版社电子工业出版社
ISBN9787121252624
出版时间2015-01
装帧平装
开本16开
定价45元
货号23648041
上书时间2024-10-31
商品详情
- 品相描述：全新
- 商品描述
-
前言
本书是《光电测试技术（第2版）》（2008年）的修订版。本书自第1版和第2版出版以来，受到高等院校师生和相关工程技术人员的欢迎，被多所院校的相关专业选为教材或参考书。这对编者来说是极大的鼓舞和鞭策，激励编者在教学、科研实践中不断总结经验，积累素材，以进一步补充和完善原书的内容和体系。
光电信息技术以不曾有过的速度快速发展，以大型宇航望远镜、点火工程等大科学工程为标志，涌现出大量的光学新技术、新产品、新设计手段、新测试设备，拓展了光电测试技术的内涵，因此，编者对《光电测试技术(第2版)》再次进行修订，主要修订内容有：
（1） 将光学系统的光度学测试内容整合到第2章，第4章仅介绍色度测试技术。
（2） 增加了第3章，介绍光学元件特性测试技术。增加了主要应用于大口径光学元件测试的子口径拼接测试技术和自由曲面测试技术，并对应用日益广泛的微透镜、自聚焦透镜分节介绍；
（3） 将原光纤测试技术整合为光纤传感技术，作为第8章的一节，增加了层析探测、激光共焦扫描显微技术两节，并对图像测试技术一节进行了修订，增加了激光雷达、波前编码成像、光场成像和关联成像（鬼成像）的内容。
（4） 在不同的章节中，补充了部分应用实例，尤其注意补充了关于数据处理的一些新方法，如2.1.3节中补充数字调焦技术内容等。
全书除绪论外共8章，绪论介绍了光电测试技术的发展历史、概况、特点，以及在光电测试技术中的数据处理方法；第1章介绍了光电测试技术中的光辐射体和光辐射探测器的基本性能和特点；第2章介绍了光学系统性能的测试技术；第3章介绍了光学元件特性的测试技术；第4章介绍了色度学的基本原理和色度测试技术；第5～7章介绍了激光测试技术，包括激光准直、测速、测距以及干涉、衍射测试技术；第8章介绍了技术成熟应用广泛的莫尔条纹、图像测试、光纤传感、层析探测、共焦扫描显微技术及纳米技术中的光电测试技术等。
本书提供如此多内容的主要目的是拓宽学生视野，适应不同专业的需求。在教学过程中，不建议都讲，而是根据学时以及不同专业、学科的需要有所选择。
本书由范志刚、张旺、陈守谦、李洪玉共同修订，范志刚负责统编全稿。
为了方便教师使用和读者学习，本书提供配套电子课件，请登录华信教育资源网注册后免费下载。
在本书再版过程中，参阅了大量文献资料，在此向作者们表示感谢。上一版编者左宝君教授级高级工程师和张爱红教授对本书修订给予了全面指导，薛文慧硕士、解放硕士以及其他许多同志为本书的修订付出了辛勤劳动，在此表示感谢。同时感谢责任编辑凌毅和电子工业出版社的热情帮助。
由于水平所限，修订过程中仍然可能存在疏漏和错误，欢迎广大读者批评指正。
编者
2015年1月
导语摘要
本书以光电测试方法为主线，较全面地介绍了在光电测试技术中所涉及的基本理论和概念、主要测试原理、测试方法、仪器组成和主要技术特点。本书除绪论外共8章，绪论介绍了光电测试技术的发展历史、概况、特点，以及在光电测试技术中的数据处理方法；第1章介绍了光电测试技术中的光辐射体和光辐射探测器的基本性能和特点；第2章介绍了光学系统性能的测试技术；第3章介绍了光学元件特性的测试技术；第4章介绍了色度学的基本原理和色度测试技术；第5～7章介绍了激光测试技术，包括激光准直、测速、测距以及干涉、衍射测试技术；第8章介绍了技术成熟应用广泛的莫尔条纹、图像测试、光纤传感、层析探测、共焦扫描显微技术及纳米技术中的光电测试技术等。上述光电测试技术广泛地应用于工业、农业、文教、卫生、国防、科研和家庭生活等各个领域。
作者简介
范志刚，主要从事精密光电测试技术、气动光学理论与技术、空间光电系统与技术等方向的研究。近年在国内外重要学术刊物上发表论文50余篇。
目录
绪论
第1章 光辐射体与光辐射探测器件
1.1 辐射度学与光度学基础
1.1.1 辐射度学与光度学的基本物理量
1.1.2 辐射度学与光度学的基本定律
1.1.3 光辐射量计算举例
1.1.4 光辐射在大气中的传播
1.2 光辐射体
1.2.1 人工光辐射体（光源）的基本性能参数
1.2.2 自然光辐射体
1.2.3 人工光辐射体
1.3 光辐射探测器件
1.3.1 光辐射探测器件的性能参数
1.3.2 光子探测器
1.3.3 热探测器件
思考题与习题1
第2章 光学系统测试技术
2.1 光电系统的对准和调焦技术
2.1.1 目视系统的对准和调焦
2.1.2 光电对准技术
2.1.3 光电调焦技术
2.2 焦距的测量
2.2.1 概述
2.2.2 放大率法
2.2.3 附加透镜法
2.2.4 精密测角法
2.2.5 莫尔偏折法
2.3 星点检验
2.3.1 星点检验的理论基础
2.3.2 星点检验条件
2.4 分辨率测试技术
2.4.1 衍射受限系统的分辨率
2.4.2 分辨率测试方法
2.5 光度学量测试技术
2.5.1 积分球及其应用
2.5.2 光学系统像面照度均匀性测试技术
2.5.3 光学系统透过率测试技术
2.5.4 光学系统杂散光分析与测试
2.6 光学传递函数测试技术
2.6.1 光学传递函数测试基础
2.6.2 光学传递函数测试原理及方法
2.6.3 光学传递函数用于像质评价
思考题与习题2
第3章 光学元件特性测试技术
3.1 光学材料特性测试
3.1.1 光学材料折射率的测量
3.1.2 色散系数的测量
3.1.3 光学材料折射率温度系数的测试
3.1.4 光学材料其他参数的测试
3.2 光学元件面形测试技术
3.2.1 刀口阴影法
3.2.2 子孔径拼接测试技术
3.2.3 自由曲面的面形测试技术
3.3 微光学元件参数测试
3.3.1 衍射光学元件衍射效率测试
3.3.2 衍射光学元件表面形貌测量
3.3.3 微透镜阵列焦距测量
3.4 自聚焦透镜参数测试
3.4.1 自聚焦透镜折射率分布测试
3.4.2 自聚焦透镜数值孔径的测量
3.4.3 自聚焦透镜周期长度的测量
3.4.4 自聚焦透镜焦斑直径的测量
思考题与习题3
第4章 色度测试技术
4.1 色度学的基本概念和实验定律
4.1.1 颜色混合定律
4.1.2 色度学中的基本概念
4.1.3 CIE标准色度系统
4.1.4 CIE标准照明体和标准光源
4.2 CIE色度计算方法
4.2.1 色品坐标计算
4.2.2 颜色相加计算
4.2.3 主波长和色纯度计算
4.3 色度的测试方法和应用
4.3.1 颜色的测量方法和仪器
4.3.2 有色光学玻璃的色度测量例
4.3.3 白度的测量
思考题与习题4
第5章 激光测试技术
5.1 激光概述
5.1.1 激光的基本性质
5.1.2 高斯光束
5.2 激光准直技术及应用
5.2.1 激光束的压缩技术
5.2.2 激光准直测试技术
5.2.3 激光准直测试技术的应用
5.3 激光多普勒测速技术
5.3.1 激光多普勒测速技术基础
5.3.2 激光多普勒测速技术的应用
5.4 激光测距技术
5.4.1 激光相位测距
5.4.2 脉冲激光测距
5.5 激光三角法测试技术
5.5.1 激光三角法测试技术基础
5.5.2 激光三角法测试技术的应用
思考题与习题5
第6章 激光干涉测试技术
6.1 激光干涉测试技术基础
6.1.1 干涉原理与干涉条件
6.1.2 影响干涉条纹对比度的因素
6.1.3 共程干涉和非共程干涉
6.1.4 干涉条纹的分析与波面恢复
6.1.5 提高分辨率的方法和干涉条纹的信号处理
6.2 激光斐索型干涉测试技术
6.2.1 激光斐索型平面干涉测量
6.2.2 斐索型球面干涉仪
6.3 波面剪切干涉测试技术
6.3.1 波面剪切干涉技术基本原理
6.3.2 横向剪切干涉仪及应用
6.3.3 径向剪切干涉仪及应用
6.4 激光全息干涉测试技术
6.4.1 全息术及其基本原理
6.4.2 全息干涉测试技术
6.4.3 全息干涉测试技术应用
6.5 激光外差干涉测试技术
6.5.1 激光外差干涉测试技术原理
6.5.2 &nbs
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价