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主动红外微电子封装缺陷检测技术

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北京海淀
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作者陆向宁 著

出版社电子工业出版社

ISBN9787121307096

出版时间2017-03

版次1

装帧精装

开本16开

纸张胶版纸

页数164页

字数158千字

定价58元

货号24215766

上书时间2024-05-17

兴文书店

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品相描述:全新

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