半导体材料测试与分析
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广东广州
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作者杨德仁 著
出版社科学出版社
ISBN9787030270368
出版时间2010-04
版次1
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
页数380页
字数481千字
定价78元
货号23903959
上书时间2022-07-07
商品详情
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