电子元器件失效分析技术
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北京房山
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作者恩云飞 著
出版社电子工业出版社
ISBN9787121272301
出版时间2015-11
版次1
装帧平装
开本16开
纸张轻型纸
页数476页
字数618千字
定价98元
货号9787121272301
上书时间2024-11-05
商品详情
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