半导体器件电离辐射总计量效应
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作者陈伟；何宝平；姚志斌；马武英
出版社科学出版社
ISBN9787030700391
出版时间2022-10
版次31
装帧其他
开本16开
页数240页
字数302千字
定价135元
货号集文天下
上书时间2024-07-31
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