PCB失效分析技术
按需印刷 全新正版
¥
308
全新
库存10件
作者陈蓓 著
出版社科学出版社
出版时间2018-10
版次1
装帧平装
上书时间2024-05-26
商品详情
- 品相描述:全新
图书标准信息
-
作者
陈蓓 著
-
出版社
科学出版社
-
出版时间
2018-10
-
版次
1
-
ISBN
9787030589170
-
定价
88.00元
-
装帧
平装
-
开本
32开
-
页数
160页
-
正文语种
简体中文
- 【内容简介】
-
本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。《BR》 全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。
点击展开
点击收起
— 没有更多了 —
以下为对购买帮助不大的评价