• PCB失效分析技术
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PCB失效分析技术

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作者陈蓓 著

出版社科学出版社

出版时间2018-10

版次1

装帧平装

上书时间2024-05-26

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品相描述:全新
图书标准信息
  • 作者 陈蓓 著
  • 出版社 科学出版社
  • 出版时间 2018-10
  • 版次 1
  • ISBN 9787030589170
  • 定价 88.00元
  • 装帧 平装
  • 开本 32开
  • 页数 160页
  • 正文语种 简体中文
【内容简介】
本书内容来自我国先进印制电路制造企业,是一群长期从事PCB失效分析的资深工程师的经验总结。作者以常见失效模式为切入点,针对分层起泡、可焊性不良、键合不良、导通不良和绝缘不良等,归纳出了失效机理、失效分析思路、失效分析案例。《BR》  全书共8章,主要内容包括常用分析技术、PCB分层失效分析、PCB可焊性失效分析、PCB金线键合失效分析、PCB导通失效分析、PCB绝缘失效分析、孔环裂纹失效分析案例和烧板失效分析案例。
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