集成电路测试技术、
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北京朝阳
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作者武乾文
出版社电子工业出版社
ISBN9787121443510
出版时间2022-10
版次1
装帧其他
开本16开
页数348页
字数389千字
定价128元
货号1202748148
上书时间2024-12-28
商品详情
- 品相描述：全新
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