晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例

图书标准信息

• 作者 马秀良
• 出版社 高等教育出版社
• 出版时间 2024-01
• 版次 1
• ISBN 9787040610963
• 定价 149.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 604页
• 字数 720.000千字

【内容简介】

本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例，旨在以“案例”的形式梳理电子显微学及晶体学的基础知识，展示如何通过对材料基础科学问题的再认识从而对经典问题产生新理解，分享发现的乐趣，传授 30 余载的学术经验。本书主体（第2～6章）按晶体的对称性从低到高依次展开，包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系，涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体，共40余种物相。第1章和第7章是科学研究中相关历史事件的精彩片段，不但能引起读者对本领域历代先驱者的无限敬仰，也能激发年轻学者投身于基础科学研究、探索自然奥秘的热情和决心。
  本书适合作为电子显微学以及材料相关专业研究生的教学用书，也可供材料科学与过程领域的科研工作者和从业者阅读和参考。

【目录】

本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例, 主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开, 包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系, 涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体, 共40余种物相。