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工业芯片可靠性设计

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北京朝阳
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作者赵东艳

出版社西安电子科技大学出版社

ISBN9787560667102

出版时间2023-03

版次1

装帧其他

开本16开

纸张胶版纸

页数376页

字数558千字

定价92元

货号1202841720

上书时间2024-12-22

松竹轩

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品相描述:全新

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