• SystemVerilog数字集成电路功能验证
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SystemVerilog数字集成电路功能验证

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作者王旭

出版社人民邮电出版社

出版时间2023-09

版次1

装帧其他

上书时间2024-03-29

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品相描述:全新
图书标准信息
  • 作者 王旭
  • 出版社 人民邮电出版社
  • 出版时间 2023-09
  • 版次 1
  • ISBN 9787115614056
  • 定价 79.80元
  • 装帧 其他
  • 开本 其他
  • 纸张 胶版纸
  • 页数 316页
  • 字数 497千字
【内容简介】
本书讲解了 SystemVerilog 的基本语法和工作原理,同时结合了 UVM 验证方法学中的验证技术知识。讲述的内容主要包括:基本数据类型、接口、类、随机化、约束、进程同步、功能覆盖和 DPI 技术。书中使用了约 270 个完整实例,详细说明了每个知识点在实际项目中的应用。最后使用学过的验证技术搭建一个基于SystemVerilog 的简单验证平台。书中还介绍了 UVM 中的一些关键技术,主要包括:继承和派生,拷贝函数、单例类、测试登记表、代理类和工厂机制。为接下来系统学习 UVM 验证方法学打下坚实的基础。
【作者简介】
王旭,从事数字集成电路方面的教学和研发,目前在学校主要讲述集成电路验证的课程、在企业作为兼职顾问,负责为企业研发的芯片指定验证方案、验证计划。
【目录】
:
前言

第1章验证导论

1.1芯片设计流程

1.2功能验证与测试平台

1.3验证流程

1.4验证语言和验证方法学

1.5定向测试和受约束随机测试

1.6层次化测试平台

1.7层次化测试平台的执行

1.8练习题

第2章测试平台和数据类型

2.1测试平台

2.1.1被测设计

2.1.2测试模块

2.1.3测试平台项层模块

2.2基本数据类型

……
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