纳米力学测试新方法－扫描探针声学显微术

图书标准信息

• 作者 李法新、周锡龙、付际 著
• 出版社 科学出版社
• 出版时间 2017-03
• 版次 1
• ISBN 9787030515766
• 定价 78.00元
• 装帧 平装
• 开本 32开
• 纸张 胶版纸
• 页数 196页
• 正文语种 简体中文

【内容简介】

本书从AFAM的力学基础－接触力学出发，阐述了AFAM的原理和基础、准确度和灵敏度、粘弹性成像，以及AFAM的广泛应用。此外，还对正在兴起的多频原子力显微术进行了介绍。本书的内容安排如下：第一章绪论简要介绍当前主要的纳米力学测试方法，以及AFAM的发展历史和研究现状。第二章首先对接触力学的基本理论进行介绍，随后介绍纳米压痕技术的测试原理和应用。第三章详细介绍原子力显微镜的基本原理和应用模式。第四章详细介绍AFAM的基本理论，定量化原理及两种基本成像模式。第五章给出了AFAM在测试和成像过程中涉及到的准确度和灵敏度问题，是对AFAM的深入研究。第六章介绍基于AFAM的材料粘弹性力学性能测试方法的原理及应用。第七章介绍AFAM在纳米科学技术各个领域的应用，主要涉及复合材料、智能材料和生物材料的微结构和微区弹性性质。第八章将介绍目前正在兴起的另一种纳米测试技术-多频原子力显微成像技术。

【目录】

作者介绍

序言