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作者陈伟[等]著
出版社科学出版社
ISBN9787030710345
出版时间2022-06
版次1
装帧平装
开本16开
定价135元
货号R_11640812
上书时间2024-08-19
高能宇宙射线与大气相互作用产生大量次级中子,在半导体器件中引起中子单粒子效应,可导致电子系统产生软错误或者硬损伤,影响飞机或者临近空间飞行器飞行的可靠性和性。本书主要介绍大气中子辐射环境及建模、中子辐射模拟装置和中子辐射环境测量技术、中子单粒子效应机理与数值模拟方法,以及实验方法和数据法,并给出单能中子源、散裂中子源、核反应堆、高山等典型环境的中子单粒子效应实验结果。 本书可为辐射效应和抗辐射加固技术研究人员提供参考,也可作为辐射物理、微电子和抗辐射加固相关专业的研究生参考书。
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