计量视角下的科技评价
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作者作者:俞立平|责编:薛铭洁
出版社社会科学文献出版社
ISBN9787520187534
出版时间2021-07
装帧平装
纸张胶版纸
定价138元
货号ZJ:9787520187534
上书时间2024-10-15
商品详情
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作者简介:
俞立平，博士，教授，博导，浙江工商大学“西湖学者”特聘教授。主要从事科技评价、技术创新、信息管理等领域的教学科研工作。已出版专著5部，发表第一作者论文170余篇，其中SCI、SSCI一区论文3篇，一级期刊论文30余篇，CSSCl论文140余篇。主持国家级课题3项，教育部人文社科、商务部重点、省软科学重点等省级课题5项；主编国家级规划教材1部，其他教材9部。被评为浙江省优秀教师、浙江省151人才、江苏省高校学科带头人、江苏省高校优秀青年骨干教师、宁波市学术领军人才。
内容简介:
科技评价工作是建设创新型国家的重要保障，定量评价在宏观评价中占据绝对主导地位。多属性评价方法作为重要的评价方法，在评价指标标准化、权重设定、数据处理、方法选取、方法自身优化等方面还存在不少问题，其他计量方法的应用也存在或多或少的问题。方法和技术层面的问题是科技评价的基础问题，属于系统误差，并没有得到应有的重视。本书侧重科技评价方法的问题研究，以学术评价为主，兼顾科技绩效评价。主要涉及文献计量学、科学计量学、多属性评价方法、经济计量学等，特别强调计量方法为应用问题服务，在此基础上进行研究方法创新。本书丰富了文献计量学与科学计量学理论，推动了多属性评价方法的进步，也是近年来科学学、情报学方法论的一部力作。
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