X射线荧光光谱分析
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作者罗立强，詹秀春，李国会等编著
出版社化学工业出版社
ISBN9787122430397
出版时间2023-08
版次3
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
页数344页
字数413千字
定价128元
货号SC:9787122430397
上书时间2024-10-14
商品详情
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作者简介:
罗立强，国家地质实验测试中心，副主任，教授，博导。1982毕业于长春地质学院岩化系，获工学学士学位；1987在中国地质科学院研究生部获理学硕士学位；1997年在中国科学院上海硅酸盐研究所获工学博士学位；2003－2005年在加拿大McMaster大学从事博士后研究。1997年首批入选国土资源部百名跨世纪科技人才计划。研究领域及研究方向为X射线光谱分析技术应用研究、流体地球化学和生物环境地球化学研究。作为项目负责人承担的项目包括：国家计委重大科学工程项目“中国大陆科学钻探工程”流体地球化学研究；国家自然科学基金“知识工程与无标样X射线光谱分析体系研究”；国家自然科学基金，“神经网络与X射线光谱分析研究”，是国家自然科学基金重大项目课题“大陆科学钻探孔区地下深部流体与微生物研究”项目负责人。2004年受欧洲X射线光谱分析大会邀请赴意大利作特邀报告。已在国内外公开发表各种论文、著作、译文等70余篇。
担任中国地质学会岩矿测试专业委员会秘书长，北京市地质学会理事，中国地质科学院科学技术委员会委员，国际《X-Ray Spectrometry》杂志副主编，国际《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》杂志副主编，《岩矿测试》主编，《光谱学与光谱分析》编委。
主编推荐:
第三版修订中，重新撰写了绪论，对XRF基本原理和主要特性进行了较大幅度的补充完善；推导了不同计数时间条件下的XRFS检出限计算公式，以弥补无相关计算式可用的不足；同时，本次修订也扩充了对一些新型XRFS装置的介绍篇幅，较详细介绍了对元素形态分析具有重要价值的XAS原理和小型XAS实验室测定装置，推介了μ子X射线光谱分析原理,补充了X射线驻波探测原理及其在硅晶半导体材料分析中的应用，提出了偏振-聚焦-单色-全反射XRFS分析原理构想；此外，本书专门补充一章，用以阐述和强调XRS在解决重大科学问题中的重要支撑作用。
内容简介:
《X射线荧光光谱分析》（第三版）系统阐述了X射线荧光光谱 (XRFS)和X射线吸收光谱（XAS）分析基本原理，描述了XRFS光谱仪主要组件与功能，介绍了XRFS定性与定量分析方法、元素基体校正理论模型和算法、样品制备技术、仪器基本特性和仪器日常维护技术。同时，还根据XRFS的发展，介绍了μ子X射线光谱、同步辐射与微区X射线光谱分析原理与应用，强调了X射线光谱分析技术在解决重大科学问题中的支撑作用，并给出了其在生态与环境、地质、冶金、半导体材料、生物、考古等领域的研究进展与应用实例。 本书可供X射线荧光光谱分析工作者学习参考,同时也可作为高等学校分析化学、分析仪器及相关专业师生的参考书。
目录:
第一章绪论
第一节X射线的发现与基本特性
第二节X射线光谱分析
一、X射线荧光光谱
二、X射线吸收光谱
第三节X射线光谱分析装置研发新发展
一、能量探测器
二、微区XRF分析装置与应用
三、全反射X射线光谱装置与应用
四、实验室小型X射线吸收谱测定装置与应用
五、当代X射线探测技术发展与应用
参考文献
第二章基本原理
第一节特征X射线的产生与特性
一、特征X射线
二、特征谱线系
三、谱线相对强度
四、荧光产额
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