IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测
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作者肖飞 等
出版社机械工业出版社
ISBN9787111634072
出版时间2019-11
版次1
装帧平装
开本B5
纸张胶版纸
页数232页
字数292千字
定价59元
货号SC:9787111634072
上书时间2024-06-25
商品详情
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内容简介:
《IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测》通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理，在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上，通过将理论分析与解析描述相结合，建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法，对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。《IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测》可作为从事电力电子技术理论与工程的技术人员的参考书，也可作为电力电子与电力传动专业的本科生、硕士和博士研究生，以及从事电力电子器件方面研究的师生与研究人员的参考书。
目录:
序
前言
第1章 绪论
1.1 IGBT失效机理
1.1.1 IGBT缺陷失效
1.1.2 IGBT随机失效
1.1.3 IGBT疲劳失效
1.2 IGBT健康状态监测方法
1.2.1 基于IGBT结温的健康状态监测方法
1.2.2 基于IGBT导通电阻与热阻的健康状态监测方法
1.2.3 基于IGBT寿命预测的健康状态监测方法
1.3 研究现状小结
1.3.1 IGBT失效机理研究方面
1.3.2 IGBT健康状态监测方法研究方面
1.4 本书的主要内容及章节安排
参考文献
第2章 IGBT器件及其工作机理
2.1 IGBT基本结构
2.2 IGBT制造工艺
2.3 IGBT工作机理
2.4 IGBT发展历程
2.5 本章小结
参考文献
第3章 IGBT失效模式及其失效机理
3.1 IGBT主要应用对象及其工作特点
3.2 IGBT主要失效模式与失效机理
3.2.1 IGBT缺陷失效模式与机理分析
3.2.2 IGBT随机失效模式与机理分析
3.2.3 IGBT疲劳失效模式与机理分析
3.3 疲劳失效实验方法
3.3.1 IGBT电热应力与功率循环疲劳老化
3.3.2 IGBT疲劳老化变异特征检测与分析
3.3.3 IGBT疲劳老化特性综合记录处理
3.4 本章小结
参考文献
第4章 与芯片相关的疲劳失效机理
4.1 界面疲劳失效机理
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