瞬时电离辐射效应
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作者陈伟 等
出版社科学出版社
ISBN9787030740441
出版时间2023-05
版次1
装帧精装
开本16开
纸张胶版纸
页数224页
字数282千字
定价180元
货号SC:9787030740441
上书时间2024-06-20
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内容简介:
瞬时电离辐射效应是电子系统最常见的一种辐射效应。瞬时电离辐射与半导体材料相互作用，感生光电流，改变器件及电路的特性和功能，影响电子系统的可靠性。本书主要介绍核爆炸辐射环境及其效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、样本空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用等内容。本书可作为从事辐射物理、抗辐射加固技术研究的科技人员及相关专业高校师生的参考书。
目录:
丛书序
前言
第1章 绪论 1
1.1 引言 1
1.2 核爆炸辐射环境及其效应 1
1.2.1 核爆炸r射线及其效应 2
1.2.2 核爆炸X射线及其效应 3
1.2.3 核爆炸中子辐射环境及其效应 3
1.3 瞬时电离辐射效应 4
1.3.1 过剩载流子的产生、复合及输运 4
1.3.2 辐射感生光电流的产生 5
1.3.3 晶体管的瞬时电离辐射效应 6
1.3.4 集成电路的瞬时错误 7
1.3.5 集成电路的瞬时辐射闩锁 8
1.3.6 瞬时辐射烧毁 11
1.4 本书内容 11
参考文献 12
第2章 模拟集成电路瞬时电离辐射效应 14
2.1 引言 14
2.2 模拟集成电路瞬时电离辐射效应机理 14
2.2.1 瞬时扰动 14
2.2.2 瞬时辐射闩锁 16
2.3 不同工艺集成运算放大器瞬时电离辐射效应 17
2.3.1 双极运算放大器 18
2.3.2 BiMOS运算放大器 19
2.3.3 CMOS运算放大器 20
2.3.4 不同工艺运算放大器效应规律 22
2.4 低压差线性稳压器瞬时电离辐射效应 23
2.4.1 两管能隙基准源低压差线性稳压器 24
2.4.2 三管能隙基准源低压差线性稳压器 27
2.4.3 CMOS工艺低压差线性稳压器 30
2.4.4 低压差线性稳压器瞬时电离辐射效应总结 31
2.5 正交设计法 31
2.5.1 正交设计法概述 32
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