电子技术基础.数字部分(杨碧石)
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八五品
仅1件
作者陆冬明 编著;杨碧石;戴春风
出版社化学工业出版社
出版时间2017-07
版次1
装帧其他
货号9787122297396
上书时间2024-11-30
商品详情
- 品相描述:八五品
图书标准信息
-
作者
陆冬明 编著;杨碧石;戴春风
-
出版社
化学工业出版社
-
出版时间
2017-07
-
版次
1
-
ISBN
9787122297396
-
定价
38.00元
-
装帧
其他
-
开本
16开
-
纸张
胶版纸
-
页数
249页
-
字数
418千字
- 【内容简介】
-
本书介绍逻辑代数的基本知识及其数字逻辑电路的基本分析和设计方法。全书共分8章。主要内容包括逻辑代数基础、逻辑门电路、组合逻辑电路、触发器、时序逻辑电路、脉冲波形产生电路、数模和模数转换电路、半导体存储器和可编程逻辑器件等。本书每章后面都配有本章小结、本章关键术语、自测题、习题和实验与实训,便于读者巩固所学理论知识,提高分析问题和解决问题的能力。本书可作为高职高专院校电子、电气、自动化、计算机等有关专业的教材,也可作为自学者及相关技术人员参考用书。
- 【作者简介】
-
杨碧石,南通职业大学,教授 教研室主任,杨碧石教授,1981年南京师范大学物理专业毕业,主要讲授《数字电子技术》和《模拟电子技术》等课程,主编出版了“十一五”国家规划教材和省精品教材《模拟电子技术基础》等多本教材。南通市先进教育工作者,校十佳师德标兵和教学名师。被评为“南通市先进教育工作者”, 被评为校“十佳师德标兵”,是学校教学名师。江苏省大学生电子设计竞赛专家组专家,江苏省政府采购评审专家(参与通信设备和仪器的招投标评审工作)、国家职业技能鉴定高级考评员(参与职业技能鉴定工作)。主要课程:电工基础 1986-1996,计算机语言 1990-1996,数字电子技术 1993-今,模拟电子技术1996-今,电子技术课程设计2009-今
- 【目录】
-
第1章逻辑代数基础1
1.1模拟信号和数字信号1
1.1.1模拟信号和数字信号2
1.1.2模拟量的数字表示3
1.1.3数字电路的特点和分类4
1.2数制和码制4
1.2.1数制4
1.2.2码制10
1.3逻辑代数的基本运算13
1.3.1与运算(逻辑与)14
1.3.2或运算(逻辑或)14
1.3.3非运算(逻辑非)15
1.4逻辑代数的基本定律及规则17
1.4.1基本定律17
1.4.2常用公式18
1.4.3重要规则19
1.5逻辑函数及其表示方法21
1.5.1逻辑函数21
1.5.2逻辑函数的表示方法21
1.5.3逻辑函数的两种标准形式24
1.6逻辑函数的化简27
1.6.1逻辑函数的最简表达式27
1.6.2逻辑函数的公式法化简28
1.6.3逻辑函数的卡诺图化简法29
1.6.4具有无关项的逻辑函数及其化简34
1.7数字系统一般故障的检查和排除35
1.7.1直观检查法36
1.7.2测量电阻法36
1.7.3静态测量36
1.7.4动态测量36
本章小结37
本章关键术语37
自我测试题38
习题40
第2章逻辑门电路43
2.1基本逻辑门43
2.1.1与门43
2.1.2或门45
2.1.3与门和或门的实际应用46
2.1.4非门46
2.2复合逻辑门47
2.2.1与非门47
2.2.2或非门48
2.2.3异或门49
2.2.4同或门50
2.2.5与或非门50
2.2.6与非门和或非门的实际应用51
2.3特殊逻辑门52
2.3.1三态逻辑门52
2.3.2集电极开路逻辑门53
2.4集成逻辑门55
2.4.1数字集成电路分类55
2.4.2TTL集成电路逻辑门56
2.4.3CMOS集成电路逻辑门56
2.4.4集成电路逻辑门的性能参数56
2.4.5TTL与CMOS集成电路的接口59
2.4.6集成电路使用常识60
2.5故障诊断和排查61
2.5.1与门和或门的故障排查技术62
2.5.2与非门和或非门的故障排查技术63
本章小结64
本章关键术语65
自我测试题65
习题67
实验与实训68
第3章组合逻辑电路71
3.1组合逻辑电路的特点和分类71
3.1.1组合逻辑电路的特点71
3.1.2组合逻辑电路的功能表示方法72
3.1.3组合逻辑电路的分类72
3.2组合逻辑电路的分析和设计73
3.2.1组合逻辑电路的分析73
3.2.2组合逻辑电路的设计75
3.3常用集成组合逻辑电路77
3.3.1加法器77
3.3.2数值比较器80
3.3.3编码器83
3.3.4译码器88
3.3.5数据选择器和分配器96
3.4组合逻辑电路中的竞争冒险现象101
3.4.1竞争冒险现象的产生原因101
3.4.2竞争冒险现象的判断方法102
3.4.3竞争冒险现象的消除方法102
3.5故障诊断和排查103
3.5.1电平恒定103
3.5.2加法器的故障排查技术103
3.5.3比较器的故障排查技术103
3.5.4编码器的故障排查技术104
3.5.5译码器的故障排查技术104
3.5.6数据选择器的故障排查技术104
本章小结104
本章关键术语105
自我测试题105
习题106
实验与实训109
第4章触发器113
4.1基本触发器114
4.1.1用与非门组成的基本触发器114
4.1.2用或非门组成的基本触发器116
4.1.3基本RS触发器的特点及应用117
4.2同步触发器119
4.2.1同步RS触发器119
4.2.2同步D触发器120
4.2.3同步RS触发器的空翻问题121
4.3主从触发器122
4.3.1主从RS触发器122
4.3.2主从JK触发器123
4.4边沿触发器125
4.4.1边沿D触发器125
4.4.2边沿JK触发器127
4.4.3其他类型触发器128
4.5故障诊断和排查130
4.5.1基本RS触发器的故障排查技术130
4.5.2边沿JK触发器的故障排查技术131
本章小结131
本章关键术语132
自我测试题132
习题133
实验与实训136
第5章时序逻辑电路138
5.1时序逻辑电路的特点和分类138
5.1.1时序逻辑电路的特点138
5.1.2时序逻辑电路功能表示方法139
5.1.3时序逻辑电路分类139
5.2时序逻辑电路的分析和设计140
5.2.1时序逻辑电路的分析140
5.2.2时序逻辑电路的设计144
5.3计数器146
5.3.1计数器的特点和分类147
5.3.2二进制计数器147
5.3.3十进制计数器152
5.3.4N进制计数器157
5.4寄存器161
5.4.1寄存器的主要特点和分类161
5.4.2基本寄存器162
5.4.3移位寄存器163
5.4.4移位寄存器型N进制计数器165
5.4.5顺序脉冲发生器167
5.5故障诊断和排查171
5.5.1集成计数器故障排查技术171
5.5.2级联的计数器故障排查技术172
5.5.3触发器构成的计数器故障排查技术172
本章小结173
本章关键术语173
自我测试题174
习题175
实验与实训178
第6章脉冲发生与整形电路181
6.1脉冲信号基本参数181
6.2集成定时器182
6.2.1555定时器182
6.2.2脉冲产生整形电路183
6.3多谐振荡器184
6.3.1用555定时器构成的多谐振荡器184
6.3.2石英晶体多谐振荡器186
6.3.3多谐振荡器应用举例187
6.4施密特触发器188
6.4.1用555定时器构成的施密特触发器189
6.4.2集成施密特触发器190
6.4.3施密特触发器应用举例191
6.5单稳态触发器192
6.5.1用555定时器构成的单稳态触发器192
6.5.2集成单稳态触发器194
6.5.3单稳态触发器应用举例194
6.6故障诊断和排查195
6.6.1定时器的故障分析195
6.6.2脉冲发生电路的故障分析196
本章小结196
本章关键术语196
自我测试题196
习题197
实验与实训199
第7章数模和模数转换器201
7.1数字系统的构成201
7.2数模转换器202
7.2.1数模转换器的工作原理202
7.2.2权电阻数模转换器202
7.2.3T型电阻网络数模转换器203
7.2.4集成数模转换器204
7.2.5数模转换器的主要参数207
7.3模数转换器207
7.3.1采样保持和量化编码208
7.3.2双积分型模数转换器209
7.3.3逐次逼近型模数转换器211
7.3.4并联比较型模数转换器212
7.3.5集成模数转换器214
7.3.6模数转换器的主要参数215
本章小结215
本章关键术语216
自我测试题216
习题217
实验与实训218
第8章半导体存储器和可编程逻辑器件220
8.1半导体存储器220
8.1.1基本概念220
8.1.2半导体存储器分类221
8.2只读存储器(ROM)221
8.2.1只读存储器的结构和分类221
8.2.2只读存储器的应用224
8.3随机存取存储器(RAM)225
8.3.1随机存取存储器结构与分类225
8.3.2存储器容量的扩展227
8.4可编程逻辑器件(PLD)228
8.4.1PLD器件的分类229
8.4.2PLD电路的基本结构229
8.4.3可编程组合逻辑器件230
8.4.4PLD的设计流程232
本章小结233
本章关键术语233
自我测试题234
习题234
实验与实训235
附录Multisim 10简介238
部分习题参考答案245
参考文献249
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