微电子封装技术

图书标准信息

• 作者 中国电子学会生产技术学分会丛书编委会 组编
• 出版社 中国科学技术大学出版社
• 出版时间 2003
• 版次 1
• ISBN 9787312014253
• 定价 95.00元
• 装帧 平装
• 开本 26cm
• 页数 314页
• 字数 525千字
• 正文语种 简体中文
• 丛书 电子封装技术丛书

【内容简介】

本书全面系统地论述了在晶体管和集成电路发展的不同历史时期出现的典型微电子封装技术，着重论述了当前应用广泛的先进IC封装技术。

【目录】

序
前言
章  绪论
  1.1  概述
    1.1.1  微电子封装技术的演变
    1.1.2  微电子封装技术
    1.1.3  微电子封装技术的重要
    1.1.4  我国微电子封装技术的现状及对策
  1.2  微电子封装技术的分级
    1.2.1  芯片互连级(零级封装)
    1.2.2  一级微电子封装技术
    1.2.3  二级微电子封装技术
    1.2.4  三级微电子封装技术
    1.2.5  三维(3d)封装技术
  1.3  微电子封装的功能
  1.4  微电子封装技术发展的驱动力
  1.5  微电子封装技术与当代电子信息技术
第2章  芯片互连技术
  2.1  概述
  2.2  引线键合(wb)技术
    2.2.1  wb的分类与特点
    2.2.2  引线键合的主要材料
    2.2.3  au—al焊接的问题及其对策
  2.3  载带自动焊(tab)技术
    2.3.1  tab技术发展简况
    2.3.2  tab技术的优点
    2.3.3  tab的分类和标准
    2.3.4  tab技术的关键材料和关键技术
    2.3.5  tab芯片凸点的设计制作要点
    2.3.6  tab载带的设计要点
    2.3.7  tab载带的制作技术
    2.3.8  tab的焊接技术
    2.3.9  tab的可靠
    2.3.10  凸点载带自动焊(btab)简介
    2.3.11  tab引线焊接机
    2.3.12  tab的应用
  2.4  倒装焊(fcb)技术
    2.4.1  倒装焊的发展简况
    2.4.2  芯片凸点的类别
    2.4.3  芯片凸点的制作工艺
    2.4.4  凸点芯片的fcb技术
    2.4.5  c4技术与dca技术的重要
    2.4.6  fcb的可靠
    2.4.7  倒装焊接机简介
  2.5  埋置芯片互连——后布线技术
  2.6  芯片互连方法的比较
第3章  插装元器件的封装技术
  3.1  概述
  3.2  插装元器件的分类与特点
  3.3  主要插装元器件的封装技术
    3.3.1  插装型晶体管的封装技术
    3.3.2  sip和dip的封装技术
    3.3.3  pga的封装技术
    3.3.4  金属外壳制造和封装技术
第4章  表面安装元器件的封装技术
  4.1  概述
    4.1.1  表面安装元器件
    4.1.2  smd的优势
    4.1.3  smd的不足
  4.2  smd的分类及其特点
    4.2.1  按封装外形分类及其特点
    4.2.2  按封装材料分类及其特点
  4.3  主要smd的封装技术
    4.3.1  “芝麻管”的封装技术
    4.3.2  圆柱形无引脚安装(melf)二极管的封装技术
    4.3.3  小外形晶体管(soq、)的封装技术
    4.3.4  ic小外形封装(sop)技术
    4.3.5  塑料有引脚片式载体(plcc)封装技术
    4.3.6  陶瓷无引脚片式载体(lccc)封装技术
    4.3.7  四边引脚扁封装(qfp)技术
  4.4  塑料封装吸潮引起的可靠问题
    4.4.1  塑料封装吸潮问题的普遍及危害
    4.4.2  塑料封装吸潮引起的开裂现象
    4.4.3  塑料封装吸潮开裂的机理
    4.4.4  塑料封装吸潮开裂的对策
第5章  bga和csp的封装技术
  5.1  bga的基本概念、特点和封装类型
    5.1.1  bga的基本概念和特点
    5.1.2  bga的封装类型和结构
  5.2  bga的封装技术
    5.2.1  pbga的封装技术
    5.2.2  pbga的封装技术
    5.2.3  cbga和ccga的封装技术
  5.3  bga的安装互连技术
    5.3.1  bga的焊球分布
    5.3.2  bga焊接用材料
    5.3.3  bga安装与再流焊接
    5.3.4  bga的焊接质量检测技术
  5.4  csf的封装技术
    5.4.1  概述
    5.4.2  csp的主要类别和工艺
  5.5  bga与csf的返修技术
    5.5.1  返修工艺
    5.5.2  返修设备简介
  5.6  bga、csp与其他封装技术的比较
  5.7  bga与csf的可靠
    5.7.1  概述
    5.7.2  焊球连接缺陷
    5.7.3  pbga安装件的焊点可靠试验
  5.8  bga与csp的生产和应用
    5.8.1  概述
    5.8.2  典型应用实例介绍
第6章  多芯片组件(mcm)
  6.1  mcm概述
  6.2  mcm的概念、分类与特
  6.3  mcm的设计
    6.3.1  设计概述
    6.3.2  mcm的设计分析
  6.4  mcm的热设计技术
    6.4.1  热分析的数学方法
    6.4.2  热分析的应用软件
    6.4.3  热设计实例
    6.4.4  两类冷却技术的比较
  6.5  mcm的组装技术
    6.5.1  概述
    6.5.2  芯片与基板的连接技术
    6.5.3  基板与封装外壳的连接技术
  6.6  mcm的检测技术
    6.6.1  概述
    6.6.2  基板测试
    6.6.4  组件的功能检测与故障诊断
  6.7  mcm的返修技术
    6.7.1  概述
    6.7.2  返修的几种常用方法
  6.8  mcm的bga封装
    6.8.1  概述
    6.8.2  at&t公司带外壳及灌硅胶的mcm bga王茎流程简介
    6.8.3  封装中的几个问题
  6.9  mcm的可靠
    6.9.1  热应变测量
    6.9.2  可靠试验
  6.10  mcm的应用
    6.10.1  概述
    6.10.2  典型应用实例介绍
第7章  微电子封装的基板材料、介质材料、金属材料及基板制作技术
  7.1  基板材料
    7.1.1  概述
    7.1.2  几种主要基板材料
  7.2  介质材料
    7.2.1  概述
    7.2.2  几种介质材料
  7.3  金属材料
    7.3.1  基