集成电路测试指南

图书标准信息

• 作者 加速科技
• 出版社 机械工业出版社
• 出版时间 2021-06
• 版次 1
• ISBN 9787111683926
• 定价 99.00元
• 装帧 其他
• 开本 16开
• 纸张 胶版纸
• 页数 257页
• 字数 154千字

【内容简介】

作者通过分享自身经验，为读者提供一本以工程实践为主的集成电路测试参考书。本书分为五篇共10章节来介绍实际芯片验证及量产中半导体集成电路测试的概念和知识。第1篇由第1章和第2章组成，从测试流程和测试相关设备开始，力图使读者对于集成电路测试有一个整体的概念。第二篇由第3~5章组成，主要讲解半导体集成电路的自动测试原理。第三篇开始进入工程实践部分，本篇由第6章的集成运算放大器芯片和第7章的电源管理芯片测试原理及实现方法等内容构成。通过本篇的学习，读者可以掌握一般模拟芯片的测试方法。第四篇为数字集成电路的具体实践。我们选取了市场上应用需求量大的存储芯片（第8章）和微控制器芯片（第9章），为读者讲述其测试项目和相关测试资源的使用方法。第五篇即第10章节，使读者了解混合信号测试的实现方式，为后续的进阶打下一个坚实的基础。
  本书主要的受众是想要或即将成为集成电路测试工程师的读者，我们假设读者已经学习过相应的基础课程，主要包括电路分析、模拟电子技术、数字电子技术、信号与系统、数字信号处理以及计算机程序设计语言。通过本书的学习，读者将对半导体集成电路测试有一个总体的概念，并可以掌握能直接应用到工作中的实战技术，并借此以“术”入“道”。对于已经从事半导体集成电路测试的工程技术人员、集成电路产品工程师、设计工程师，本书也具有一定的参考意义。

【作者简介】

加速科技，以FPGA设计、高速通信技术、高性能数字信号处理技术、高精度模拟技术为基础，将相关技术应用于半导体测试领域，是业界的数模混合信号测试设备提供商。公司推出自主研发的250Mbps及以上高性能数模混合信号测试系统解决方案，实现了国产替代，推动国产数字测试系统迈上新台阶，助力中国芯。加速科技团队是一支年轻、富有激情的团队，具有扎实的技术功底。团队成员秉承以客户为本的宗旨，以成就客户为己任，力图在半导体测试领域为中国芯片事业贡献力量。

【目录】

序一

序二

序三

前言

第一篇　集成电路测试及测试系统简介

第1章　集成电路测试简介    2

1.1?集成电路测试的分类    3

1.1.1?集成电路测试分类    3

1.1.2?CP测试流程及设备    4

1.1.3?FT测试流程及设备    6

1.2?IC测试项目   10

1.3?产品手册与测试计划   11

1.3.1?产品手册   11

1.3.2　测试计划    12

1.4?测试程序  13

1.4.1?测试程序的分类   13

1.4.2?量产测试程序的流程   13

1.4.3　分类筛选   14

第2章　集成电路测试系统   15

2.1  模拟IC测试系统   15

2.2  数字IC测试系统   18

2.2.1  数字测试系统的组成   18

2.2.2  PMU的原理与参数设置   21

2.2.3　引脚电路的组成和原理    23

2.3  混合IC测试系统    25

2.3.1  模拟子系统与数字子系统    27

2.3.2　测试同步    28

2.4  ST2500高性能数模混合测试系统    29

2.4.1?ST2500硬件资源    30

2.4.2?环境要求    43

2.5  ST-IDE软件系统    44

2.5.1　ST-IDE软件界面    44

2.5.2　基于ST-IDE的测试程序开发流程   46

2.5.3?工厂界面    57

2.6?集成电路测试工程师实训平台    59

2.6.1?实验产品    60

2.6.2?教学实验板的使用    63

第二篇　集成电路

基本测试原理

第3章　直流及参数测试    66

3.1  开短路测试    66

3.1.1　开短路测试的目的和原理    66

3.1.2　开短路测试的方法    67

3.1.3　开短路的串行与并行测试    69

3.2  漏电流测试    69

3.2.1　漏电流测试的目的    69

3.2.2　漏电流测试方法    70

3.2.3  漏电流测试的串行与并行    72

3.3  电源电流测试    72

3.3.1　电源电流测试的目的    72

3.3.2　IDD测试方法    72

3.4  直流偏置与增益测试    74

3.4.1　输入偏置电压测试    74

3.4.2　输出偏置电压    74

3.4.3　增益测试    74

3.5  输出稳压测试    75

3.6  数字电路输入电平与输出电平测试    76

3.6.1　输入电平（VIL/VIH）测试    76

3.6.2　输出高电平（VOH/IOH）测试   76

3.6.3　输出低电平（VOL/IOL）测试   77

3.6.4  输出电平的功能测试方法   78

第4章　数字电路功能及交流参数测试    80

4.1  测试向量    80

4.2  时序的设定    82

4.2.1  时序的基本概念    82

4.2.2  定义时序与波形格式    84

4.3  引脚电平的设定    86

4.4  动态负载测量开短路    87

第5章　混合信号测试基础    90

5.1?时域与频域分析    90

5.1.1　周期时域信号分解工具—傅里叶级数   90

5.1.2　频域分析    94

5.2?采样    97

5.2.1　采样及采样定理    97

5.2.2  离散傅里叶变换与快速傅里叶变换   97

5.2.3  相干采样   98

5.3  DAC的静态参数测试   99

5.3.1  最小有效位   99

5.3.2  零点偏移误差   100

5.3.3  增益误差    100

5.3.4  差分非线性误差    101

5.3.5  积分非线性误差    102

5.4  ADC的静态参数测试    102

5.4.1  最小有效位    102

5.4.2  零点偏移误差    104

5.4.3  增益误差    105

5.4.4  差分非线性误差    105

5.4.5  积分非线性    105

5.5  ADC/DAC的动态参数测试    106

第三篇　模拟集成电路测试与实践

第6章　集成运算放大器测试与实践   110

6.1?集成运算放大器的基本特性    110

6.1.1?集成运算放大器的原理与工作模式   110

6.1.2?典型集成运算放大器的特征参数   111

6.2?集成运算放大器的特征参数测试方法   112

6.2.1?输入失调电压   113

6.2.2?输入偏置电流与输入失调电流   114

6.2.3?共模抑制比   115

6.2.4?开环电压增益    116

6.2.5?电源抑制比    117

6.2.6?全谐波失真    118

6.2.7?静态功耗    119

6.3?集成运算放大器测试计划及硬件资源    119

6.3.1?测试方案设计    119

6.3.2?Load Board设计    121

6.4?测试程序开发    122

6.4.1?新建测试工程    122

6.4.2?编辑Signal Map     123

6.4.3?新建tmf文件以及cpp文件    124

6.4.4?特征参数测试编程详解    124

6.5?程序调试及故障定位    125

6.5.1?测试项目启动    125

6.5.2?测试调试    126

6.5.3?测试过程与测试结果    126

6.6?测试总结    127

第7章　电源管理芯片测试与实践    129

7.1?电源管理芯片原理与基本特性    129

7.1.1?电源管理芯片工作原理    129

7.1.2?电源管理芯片的典型应用    130

7.1.3  电源管理芯片的特征参数    132

7.2  LDO特征参数测试方法    134

7.2.1  输出电压    134

7.2.2  最大输出电流    135

7.2.3  输入输出压差    136

7.2.4  接地电流    137

7.2.5  负载调整率    137

7.2.6  线性调整率    139

7.2.7  电源抑制比