• Lattice可编程器件测试技术
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Lattice可编程器件测试技术

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北京东城
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作者吴丹、石坚、周红 著

出版社西北工业大学出版社

ISBN9787561242537

出版时间2015-01

版次1

装帧平装

开本16开

纸张胶版纸

字数39千字

定价30元

货号YTCZ

上书时间2024-11-15

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