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互换性与技术测量

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作者张晓红 主编

出版社北京理工大学出版社

ISBN9787568233552

出版时间2017-03

版次1

装帧其他

开本16开

纸张胶版纸

页数212页

字数99999千字

定价45元

货号X23

上书时间2024-11-29

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