数字电子技术实验实训
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作者编者:梁健//胥淮|责编:郭乃明
出版社电子工业出版社
ISBN9787121390630
出版时间2020-06
版次1
装帧平装
开本16开
纸张胶版纸
页数145页
字数243.2千字
定价27元
货号SC:9787121390630
上书时间2024-10-31
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商品详情
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内容简介:
本书是数字电子技术立体化系列教材的实验实训指导书部分，其主要用途是指导学生进行数字电路实验及综合实训。
本书的内容包括数字电子技术实验实训基础知识（包括实验室的安全操作规程、实验常用器材和工具的使用、实验方法、常见故障的诊断与排除）；数字电路应用实验（包括12个数字电路实验任务及对其实验目的、器材和工具、内容和步骤、实验报告内容等的介绍，其中标*号的为学时不够时的选做内容）；数字电路综合实训（包括综合实训的基本任务、基本要求、基本步骤和方法、排除故障训练与考核、4个可选课题等）以及附录（介绍了数字逻辑实验仪、双踪示波器与数字万用表的使用方法，实验室常用元器件的型号及参数，常用数字集成电路（TTL、CMOS）的型号及引脚排列图，以及部分数字集成电路的功能等）。
本书可作为高职高专院校及成人高校的电子、通信等专业的“数字电子技术”和“电子技术基础”课程的数字电子部分的教材（实验单独设课）或实训指导书（实验不单独设课）。本书提供的一些实验资源也可供从事电子技术方面的工程技术人员参考。
目录:
学生实验守则
第1章 数字电子技术实验实训基础知识
1.1 实验室的安全操作规程
1.1.1 人身安全
1.1.2 仪器、设备安全
1.2 实验常用器材和工具的使用
1.2.1 常用器材
1.2.2 常用工具
1.3 实验方法
1.3.1 TTL与CMOS数字集成电路的使用规则
1.3.2 TTL与CMOS电路的主要电气参数指标
1.3.3 数字电路的功能测试方法
1.3.4 数字电路的实验测试手段
1.3.5 根据实验原理图画接线图的方法
1.4 常见故障的诊断与排除
1.4.1 数字电路常见故障
1.4.2 数字电路常见故障的检查与排除方法
第2章 数字电路应用实验
2.1 任务1 集成逻辑门电路的逻辑功能测试
*2.2 任务2 集成逻辑门电路的参数测试
2.3 任务3 集成门电路构成组合逻辑电路的实验分析
2.4 任务4 MSI译码器的检测与应用
2.5 任务5 MSI数据选择器的检测与应用
*2.6 任务6 XJ4328型双踪示波器的使用
2.7 任务7 触发器的功能分析
2.8 任务8 用触发器构成计数器
2.9 任务9 MSI计数器的应用
2.10 任务10 计数、译码、显示功能的综合应用
2.11 任务11 555时基电路
*2.12 任务12 A/D转换和D/A转换及其应用
第3章 数字电路综合实训
3.1
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